Инвертированный металлографический микроскоп Nikon ECLIPSE MA200

• Элементы управления - Все элементы управления прибором вынесены на переднюю панель. Такое размещение облегчает работу оператора.
• Быстрая проверка состояния - На передней панели микроскопа отображается информация о положении рабочего объектива и образца.
• Автопереключение апертуры при смене режима светлое/темное поле - При переходе из режима светлого в режим темного поля, полевая и апертурная диафрагма открываются в автоматическом режиме. При возврате в режим светлого поля, восстанавливаются предыдущие настройки диафрагм.
• Механизм защиты от засветки - Автоматически предотвращает засвечивание отраженным светом при переключении объективов.
• Автоматически определяет позицию используемого в данный момент объектива, информация выводится на переднюю панель прибора
• Комбинирование разных операций - Механизм взаимоблокировки анализатора/поляризатора подсоединение/отсоединение анализатора и поляризатора взаимозависимы.

Предшественниками модели Nikon Eclipse MA200 являются микроскопы Nikon Epiphot TME200 и Nikon Epiphot TME300.

Площадь поверхности установки меньше, чем в обычных моделях

• Компактная конструкция глубиной 315 мм - Микроскоп смонтирован в виде бокса, при этом значительно уменьшена не только глубина, но и ширина прибора: площадь, занимаемая прибором меньше по сравнению с обычными моделями!
• Стабильность/длительность эксплуатации - Снижена вибрация при наблюдениях на больших увеличениях. Повышена жесткость конструкции.
• Компактный дизайн - Используются встроенные турели светофильтров, что предотвращает попадание на них пыли, это позволяет добиваться равномерного освещения. Встроенный источник питания также экономит место.
• Сшивка изображений - Предусмотрена возможность комбинирования граничащих изображений для создания широкопольных изображений. Кроме того, благодаря улучшенной равномерности освещения, теперь можно получать еще более яркие изображения.

Определяет и измеряет зерна в одно- и двухфазных образцах в соответствии со стандартами J IS G0551или ASTM Е112-96/E1382-97.

Результаты измерений включают:

• Размер зерен G
• Размер зерен по участкам и/или отрезкам
• Количество зерен
• Индекс анизотропности
• Другие базовые статистические данные о зернистости

Методы измерения с настройками, изменяемыми пользователем:

• Планиметрия
• Линейные
• Циркулярные
• Абрамс

Определяет, измеряет и классифицирует содержание графита и феррита в образцах, скорректированных по содержанию графита в соответствии со стандартом JIS G5502 или ASTM A247-06.

Основные сферы применения:

• Классификация графитовых включений по размеру и форме
• Включения шаровидного графита
• Фракции графита, феррита, шаров. графита, перлита
• Другие базовые стат. данные о чугуне
• Настраиваемые функции включают маски изображений, ограничения по размеру, классификацию включений.