Микроскопы сверхвысокого разрешения

Nikon N-STORM

Микроскоп сверхвысокого разрешения Nikon N-STORM

Система N-STORM поступается временным разрешением ради пространственного разрешения, обеспечивая невероятное пространственное разрешение изображения, приблизительно 20 нм, что в 10 или более раз превышает значение обычного оптического микроскопа. Микроскопия стохастической оптической реконструкции (STORM) теперь делает возможным наблюдение за межбелковыми взаимодействиями на молекулярном уровне.

Nikon N-SIM

Микроскоп сверхвысокого разрешения Nikon N-SIM

С помощью высокочастотного структурированного освещения модель N-SIM достигает разрешения в 115 нм, что ранее считалось недостижимым результатом для оптического микроскопа. Кроме того, обеспечивая временное разрешение 0,6 сек/кадр, микроскоп N-SIM делает возможным съемку с временным разрешением молекулярных взаимодействий живых клеток с высоким пространственным разрешением. Живые образцы можно держать в оптимальных условиях окружающей среды с помощью инкубатора установленного на предметный столик и специально разработанного для N-SIM.

Микроскопы сверхразрешения Nikon позволяют преодолеть дифракционный предел и получить разрешение, в разы превышающее значения, получаемые в классической оптической микроскопии. За счет специализированной обработки и особого освещения достигается невероятное улучшение качества изображения. Программное обеспечение позволяет провести анализ снимков и исследовать наноскопические структуры и их функции в живых клетках.

Микроскоп N-SIM делает возможным съемку с временным разрешением динамики молекулярных взаимодействий живых клеток. Путем обработки изображений муарового рисунка, который получается при освещении образца структурированным излучением высокой пространственной частоты, достигается пространственное разрешение до 115 нм.

Система N-STORM поступается временным разрешением ради пространственного. При помощи точной информации о локализации отдельных флуорофоров и оптической реконструкции в трех измерениях достигается получение разрешения порядка 20 нм.

Возможно сочетание методик N-SIM и N-STORM между собой, а также с конфокальной микроскопией.