• Nikon Eclipse Ni
  • Модель Ni-U
  • Модель Ni-E
  • Галерея

Прямой исследовательский микроскоп Nikon Eclipse Ni

Компания Nikon разработала серию ECLIPSE Ni, которую отличает высокое качество оптики и широкие возможности визуализации. Серия микроскопов Ni является надежной основой биологических исследований, предлагая улучшенные базовые характеристики и гибкость системы.

Серия Ni разработана, чтобы отвечать потребностям любых исследований в области биологии и медицины, например:

  • Клеточная биология
  • Нейробиология
  • Патологоанатомия
  • Онтогенетика
  • Иммунология
  • Генетика
  • Микробиология
  • Исследование рака
  • Открытие лекарственных препаратов

Запатентованная компанией Nikon стратиграфическая структура, используемая и получившая высокую оценку в инвертированных исследовательских микроскопах, теперь применяется в прямом микроскопе, что позволяет устанавливать различные комбинации компонентов.

Предшественниками моделей Nikon Eclipse Ni-U и Ni-E являются микроскопы Nikon Eclipse 80i и Nikon Eclipse 90i соответственно.

Отличительные особенности серии микроскопов Ni

  • Эргономичный объемный дизайн для удобства выполнения операций «слепым методом»
  • Кнопки на боковых поверхностях микроскопа имеют изогнутую форму, что облегчает пользование этими кнопками «вслепую» во время наблюдения
  • Небольшая площадь основания
  • Основание микроскопа позволяет экономить пространство и обеспечивает большую площадь рабочей поверхности.
  • Возможность расширения
  • Широкий ассортимент дополнительных моторизованных аксессуаров
  • Автоматизация
  • Интеллектуальное автоматическое переключение между методами исследования

Превосходная оптика

Благодаря передовым технологиям от производства оптического стекла до дизайна, изготовления, покрытия и обработки линз Nikon обеспечивает непревзойденное качество оптики.

Линзы для объективов с повышенными эксплуатационными характеристиками

Серия CFI Plan Achromat λ

Имея исключительно высокую числовую апертуру, серьезно улучшенный коэффициент пропускания в длинноволновом диапазоне благодаря использованию запатентованного покрытия компании Nikon Nano Crystal Coating и коррекцию хроматической аберрации свыше 435-850 нм, эти объективы идеально приспособлены не только для наблюдений методом светлого поля и ДИК, но также и для люминесцентной микроскопии. Эти линзы обеспечивают получение ярких и четких изображений на любой длине волны для визуализации в ближнем ИК-диапазоне и многоцветных люминесцентных изображений. Поскольку получение ярких изображений возможно даже при слабом свете возбуждения, образец повреждается незначительно

Нанокристаллическое покрытие Nano Crystal Coat

Противоотражающее покрытие, состоящее из наночастиц, основано на полупроводниковой технологии и также используется при производстве линз для камер Nikon. Грубая структура, на которой частицы расположены наподобие губки на равном расстоянии друг от друга обеспечивает крайне низкий индекс отражения.

Равномерное яркое освещение

Линза типа “fly-eye” идеально подходит для оптических систем с диаскопическим освещением. При любой кратности увеличения обеспечивается равномерное яркое освещение до периферии поля зрения.

Удаление люминесцентного шума

Запатентованный компанией Nikon механизм подавления шума применяется в флюоресцентных кубовых турелях и кубовых фильтрах. Соотношение сигнал/шум кардинально улучшилось благодаря удалению паразитного света в фильтровых кубах, что позволяет регистрировать флюоресцентные сигналы высокой контрастности и яркости.

Линзы для погружных водоиммерсионных объективов

Благодаря большому рабочему расстоянию и высокой числовой апертуре эти объективы обеспечивают великолепное пропускание волн в ближнем ИК-диапазоне.

Осевая хроматическая аберрация объективов 40х и 60х скорректирована до 850 нм, позволяя получать получать изображения мельчайших структур в образцах большой толщины с высоким разрешением методом ДИК в ИК диапазоне спектра.

Объективы 25хW MP и 100х обладают высокой числовой апертурой (1.1) и большим рабочим расстоянием (2,0 мм). Благодаря коррекции хроматической аберрации ближнем ИК-диапазоне спектра эти объективы идеально подходят микроскопии методом многофотонного возбуждения. Помимо этого, за счет применения механизма компенсации изменений сферической аберрации, которые происходят при различных температурах и на различной глубине точки наблюдения, можно получить четкие изображения областей внутри образца большой толщины.

Реализуемые методики

Методики FISH, FRAP, FLIP, FLIM, FRET

Многоцветная люминесцентная визуализация (Ni-E)

Потребность в получении многоцветных люминесцентных изображений с использованием современных люминесцентных белков и реагентов постоянно возрастает. Nikon отвечает этим потребностям, предлагая разнообразие функций и оптических технологий.

Визуализация методом фотоактивации (Ni-E/Ni-U)

Исследование реакций и изменений, происходящих в стимулированных клетках, в последние годы приобрело популярность. Nikon разработал новый модуль фотоактивации для прямых микроскопов.

Доступны новые лазерные модули LU-N.
Доступны лазерные модули LU-NV.

Высокоскоростные моторизованные компоненты

Высокоскоростные колеса с фильтрами возбуждения и барьерными фильтрами и моторизованный затвор позволяет быстро изменять длину волны, снижая фотообесцвечивание образца. Им можно управлять с помощью легкодоступных кнопок управления, что повышает эффективность работы.

Гибкая многослойная система

Эта структура позволяет устанавливать модуль фотоактивации и эпифлюоресцентную кубовую турель в два уровня.

Объективы для длинноволнового лазера

С объективами CFI Plan Apochromat λ хроматическая аберрация скорректирована до 850 нм, а коэффициент пропускания повышен в широкой области спектра, что повышает точность и эффективность лазерного возбуждения исследуемого объекта.

Многофотонная визуализация (Ni-E)

В настоящее время все большую популярность приобретает многофотонная микроскопия, при которой длинноволновое возбуждение используется для обеспечения менее агрессивного воздействия на образец при получении изображений более глубоких областей. Дизайн модели Ni-E оптимизирован для многофотонной микроскопии с точки зрения как оптической, так и механической систем, что отвечает потребностям сегодняшнего дня.

Cпециализированный объектив для многофотонной микроскопии

Объектив CFI175 Apochromat 25 х WMP обеспечивает коррекцию хроматической аберрации в широком диапазоне от 405 до 950 нм, имеет высокую числовую апертуру NA (1,1) и увеличенное рабочее расстояние (2,0 мм), а также совместимость с водной иммерсией и возможность погружения в воду

Высокочувствительный многофотонный детектор (NDD)

Недавно разработанный эпископический NDD модуль (non-descanned detector) включает детектор, который с успехом улавливает слабые сигналы из глубинных частей живых образцов. В сочетании с диаскопическим модулем NDD, также можно регистрировать проходящий свет.

Конфокальная визуализация

Микроскопы серии Ni достаточно массивны, поэтому в них можно встраивать конфокальный сканер. Широкий поток света позволяет делать яркие конфокальные изображения.

  • Многофотонный конфокальный микроскоп A1R MP
  • Микроскоп A1R MP обладает способностью высокоскоростной многофотонной визуализации до 420 к/с. Приемник, не требующий десканирования (NDD), обеспечивает визуализацию на большой глубине образца с высокой чувствительностью. Благодаря использованию NDD можно осуществить быстрое и точное разделение зеленого/желтого флуоресцентного белка.
  • Конфокальный микроскоп A1R/A1
  • Микроскоп A1 оснащен нерезонансным сканером высокой точности изображения (до 4096х4086 пикселей). Модель A1 также оснащена высокоскоростным (до 420 к/с) резонансным сканером, который позволяет осуществлять одновременно фотоактивацию и визуализацию.
  • Конфокальный микроскоп C2
  • Модель С2 имеет компактный дизайн и проста в использовании, а также поддерживает функцию одновременного 4-канального получения информации. Он обеспечивает различные режимы визуализации, например, сшивание изображений (крупные изображения).
  • Конфокальный микроскоп спектральной визуализации A1Rsi/A1si/C2si
  • Благодаря встроенному спектральному детектору одним сканированием можно получать широкий спектр длин волн 320 нм. Перекрывающиеся спектры можно аккуратно разделить без перекрестного затухания.