Микроскопы для пластин и фотошаблонов

Nikon Eclipse L200N, L200ND

Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND

Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении.

Nikon Eclipse L300N, L300ND

Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L300N/L300ND

Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L300N/L300ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L300N/L300ND являются микроскопы Nikon Eclipse L300/L300D. L300N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении L300ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 300 мм при эпископическом и диаскопическом освещении.

Профилометр Nikon BW-D500

Профилометр Nikon BW-D500

Инспекционные микроскопы – специализированная группа приборов, предназначенная для исследования поверхности полупроводниковых пластин (в отраженном свете) и шаблонов (в проходящем свете).