• Nikon Eclipse L200N, L200ND
  • Программное обеспечение
  • Технические характеристики
  • Галерея

Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND

Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D.

L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении

Функции и рабочие характеристики

  • Микроскоп L200ND позволяет осуществлять наблюдения при диаскопическим освещении с использованием различных методик: светлое и темное поле, простая поляризация и DIC (дифференциально-интерференционный контраст). Кроме того, имеется возможность осуществления эпифлуоресцентной микроскопии, в том числе с применением УФ-возбуждения при длине волны 365 нм.
  • Высокая эффективность микроскопии полупроводников и органического электролюминесцентного материала.

Тринокулярный тубус с регулируемым углом наклона позволяет осуществлять наблюдение на оптимальном для наблюдателя уровне

Контроль прецизионного движения по оси X-Y

  • Прецизионное устройство управления движением по оси X-Y размещается вблизи оператора.
  • Все устройства управления располагаются рядом друг с другом, что облегчает перемещение предметного стола и выполнение фокусировки.

Универсальная револьверная головка с ручным переключением

  • Возможность установки до 6 объективов.
  • Центровка позволяет свести к минимуму смещение изображения при смене объектива даже при работе с большим увеличением. Изображение остается стабильным при любом увеличении.
  • Защитный механизм, который активируется при повороте револьверной головки, защищает глаз оператора от воздействия вспышки.

Мишени для фокусировки

Возможность установки фокусировочной мишени в оптическом пути позволяет легко и точно сфокусировать систему на образец с низкой контрастностью, например, на полупроводниковую пластину.

Управление вынесено на переднюю панель

  • Основные органы управления размещаются на передней панели микроскопа, что облегчает доступ к ним.
  • Можно быстро управлять микроскопом не отрываясь от просмотра образцов.