• Nikon Eclipse L300N, L300ND
  • Программное обеспечение
  • Технические характеристики
  • Галерея

Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L300N/L300ND

Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L300N/L300ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L300N/L300ND являются микроскопы Nikon Eclipse L300/L300D.

L300N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении

L300ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 300 мм при эпископическом и диаскопическом освещении

Функции и рабочие характеристики

  • Микроскоп L300ND позволяет осуществлять наблюдения при диаскопическим освещении с использованием различных методик: светлое и темное поле, простая поляризация и DIC (дифференциально-интерференционный контраст). Кроме того, имеется возможность осуществления эпифлуоресцентной микроскопии, в том числе с применением УФ-возбуждения при длине волны 365 нм.
  • Высокая эффективность микроскопии полупроводников и органического электролюминесцентного материала.

    Тринокулярный тубус с регулируемым углом наклона позволяет осуществлять наблюдение на оптимальном для наблюдателя уровне.

    Контроль прецизионного движения по оси X-Y.

    • Прецизионное устройство управления движением по оси X-Y размещается вблизи оператора.
    • Все устройства управления располагаются рядом друг с другом, что облегчает перемещение предметного стола и выполнение фокусировки.

    Универсальная револьверная головка с ручным переключением

    • Возможность установки до 6 объективов.
    • Центровка позволяет свести к минимуму смещение изображения при смене объектива даже при работе с большим увеличением. Изображение остается стабильным при любом увеличении.
    • Защитный механизм, который активируется при повороте револьверной головки, защищает глаз оператора от воздействия вспышки.

    Мишени для фокусировки

    Возможность установки фокусировочной мишени в оптическом пути позволяет легко и точно сфокусировать систему на образец с низкой контрастностью, например, на полупроводниковую пластину.

    Управление вынесено на переднюю панель

    • Основные органы управления размещаются на передней панели микроскопа, что облегчает доступ к ним.
    • Можно быстро управлять микроскопом не отрываясь от просмотра образцов.