TOKYO BOEKI - официальный дистрибьютор Nikon на территории России и в других странах СНГ
ОПТИЧЕСКИЕ МИКРОСКОПЫ И СИСТЕМЫ ИЗМЕРЕНИЯ
Телефон:
+7-495-223-4000
Факс:
+7-495-223-4001
E-mail:
main@tokyo-boeki.ru

Настольный растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6000PLUS (Neoscope II)

Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
JCM-6000PLUS – компактный многофункциональный настольный растровый электронный микроскоп японской компании JEOL Ltd., предназначенный для изучения небольших образцов с субмикронным разрешением. Благодаря своему принципиально новому дизайну, данный РЭМ позволяет быстро освоиться и получать хорошие результаты даже человеку, не обладающему специальными знаниями в области электронной микроскопии. Компактные размеры и относительно небольшая масса этого прибора делают возможной его установку в малых или даже в мобильных лабораториях. Для нормальной работы JCM-6000PLUS требует всего лишь прочный, устойчивый стол и евророзетку.

JCM-6000PLUS – компактный многофункциональный настольный растровый электронный микроскоп японской компании JEOL Ltd., предназначенный для изучения небольших образцов с субмикронным разрешением. Благодаря своему принципиально новому дизайну, данный РЭМ позволяет быстро освоиться и получать хорошие результаты даже человеку, не обладающему специальными знаниями в области электронной микроскопии. Компактные размеры и относительно небольшая масса этого прибора делают возможной его установку в малых или даже в мобильных лабораториях. Для нормальной работы JCM-6000PLUS требует всего лишь прочный, устойчивый стол и евророзетку.


Несмотря на свою компактность, «Неоскоп-2» обладает богатым функционалом. Он штатно комплектуется детекторами вторичных и отражённых электронов и может работать как в режиме высокого, так и низкого вакуума. Диапазон увеличений прибора составляет от 10 до 60’000 крат в пересчёте на размеры отпечатка 128мм*96мм, а максимальный размер образца – 70мм в диаметре и 50мм высотой.

Кроме того, данный микроскоп можно оснастить энергодисперсионной системой микроанализа, столиками для растяжения/сжатия, заморозки и нагрева образцов. Детально изучить морфологию исследуемого объекта позволяет специальный моторизованный держатель с возможностью наклона и вращения образца. Благодаря всему сказанному выше, JCM-6000PLUS позволяет решать большинство задач по исследованию морфологии и анализу элементного состава различных объектов.

NEOSCOPE II принадлежит к семейству приборов InTouchScope, и его система управления, построенная по планшетной технологии, предельно проста и интуитивно понятна. Оператор может управлять РЭМ JCM-6000PLUS любым удобным для себя способом: при помощи компьютерной мыши, сенсорного 23-дюймового монитора или дистанционно, с планшета iPad (опция).

Меню прибора включает множество автоматических функций. Кроме ставших уже привычными автофокусировки и автоматической настройки яркости и контрастности изображения, у «Неоскопа» есть еще и автоматическое устранение астигматизма, а также автоматическая настройка параметров электронной пушки и электронно-оптической колонны. В итоге, время от момента установки нового образца на предметный столик до момента получения изображения составляет не более 3 минут. Не обошли вниманием разработчики и опытных микроскопистов – для них оставлена возможность проводить настройки прибора вручную.

Огромное внимание разработчики «Неоскопа-2» уделили простоте обслуживания этого прибора. Практически все сервисные операции могут быть выполнены оператором микроскопа, без вызова заводского инженера. К примеру, вольфрамовые катоды, предварительно отцентрированные на заводе, поставляются в сборе с цилиндрами Венельта, и при их замене не требуется никакой чистки и центровки. Оператору достаточно лишь извлечь из гнезда старый катодный картридж и установить новый. Эта процедура (с учётом времени напуска воздуха в камеру образцов и электронно-оптическую колонну) занимает не более 2-3 минут, а ещё через 2-3 минуты уже можно продолжать свои исследования!

Дизайн микроскопов JCM-6000 и JCM-6000PLUS разработан всемирно известной студией Кена Окуямы, а надёжность этих приборов помогли повысить японские школьники (в том числе и младшего возраста), проводившие бета-тестировавшие JCM-6000PLUS в своих учебных заведениях. Специалисты JEOL учитывали все возникавшие поломки, отказы, неисправности и вносили необходимые изменения в конструкцию прибора. В итоге NEOSCOPE II получился стильным, удобным в эксплуатации и очень надёжным настольным растровым электронным микроскопом.

Увеличение (в пересчете на отпечаток 128 мм x 96 мм) Вторичные электроны: x10 - x60 000
Обратно-рассеянные электроны: x10 - x30 000
Режимы наблюдения Вторичные электроны
Обратно-рассеянные электроны
Ускоряющее напряжение Вторичные электроны: 5 кВ, 10 кВ, 15 кВ (три режима)
Обратно-рассеянные электроны: 10 кВ, 15 кВ (два режима)
Электронная пушка Компактная электронная пушка с катодом и встроенным цилиндром Вельнета
Предметный столик Ручное управление по осям X и Y
Диапазон перемещений: X: 35 мм, Y: 35 мм
Максимальный размер образца 70 мм в диаметре и 50 мм в высоту
Формат файлов изображений BMP, TIFF или JPEG
Компьютер Настольный ПК с ОС Windows®7 64 бит
Дисплей 23-дюймовый сенсорный ЖК-монитор
Формат файлов изображений BMP, TIFF или JPEG
Вакуумная система Полностью автоматизирована:
Турбомолекулярный насос 1 шт.
Форвакуумный ротационный насос 1 шт.
Низковакуумный режим Доступен
Габариты базового блока 325мм (Ш) * 490мм (Г) * 430мм (В)
Масса базового блока 50 кг
Энергопотребление 880 ВА
Устанавливаемые приставки Энергодисперсионный спектрометр
Моторизованный столик с наклоном и вращением
Столик с нагревом и охлаждением образца
Столик для механических испытаний образцов
Рекомендуемые размеры стола 1200мм*700мм
Требования по прочности стола должен выдерживать нагрузку до 100 кг
Температура воздуха в помещении от 15° до 30°С
Допустимый уровень влажности воздуха до 60%, без выпадения конденсата
Индукция магнитного поля в месте установки прибора не более 0,3мкТл (синусоида, 50/60Гц)
Электропитание 1-фазная евророзетка, 880ВА
Заземление сопротивлением до 100 Ом

Несмотря на свои компактные размеры, JCM-6000PLUS позволяет устанавливать различные приставки, существенно расширяющие его функционал.

Система микроанализа на основе энергодисперсионного спектрометра (ЭДС) устанавливается в боковой порт JCM-6000PLUS и позволяет определять элементный состав образцов с локальностью порядка 1мкм3. Технические характеристики
Система охлаждения Термоэлектрическая (безазотная)
Диапазон определяемых элементов от 5B до 92U
Разрешение по Mn Ka-линии не более 133эВ
Поддерживаемые функции Анализ в точке, анализ вдоль линии, построение карт распределения элементов
Экспорт результатов в Microsoft Word, Excel, Power Point, текстовые или графические файлы

Моторизованный столик с наклоном и вращением предназначен для детального, всестороннего изучения морфологии поверхности образцов. Технические характеристики
Диапазон углов наклона образца -15°…+45°
Диапазон углов вращения образца 360° (непрерывное)
Устанавливаемый пьедестал диаметром 25 мм

Столик с функциями нагрева и охлаждения образца предназначен для проведения исследований влагосодержащих, в том числе биологических объектов, а также полимеров, гелей и образцов, неустойчивых к воздействию электронного пучка. Технические характеристики
Диапазон рабочих температур -25°C…+50°C (модификация COOLSTAGE)
-50°C…+50°C (модификация ULTRACOOLSTAGE)
Точность определения температуры образца ±1,5°C
Стабильность поддержания температуры образца ±0,2°C
Максимальная скорость нагрева/охлаждения образца 12°C/мин.

Предметный столик для механических испытаний позволяет проводить эксперименты по сжатию и растяжению образцов с одновременным наблюдением их микроструктуры в электронном микроскопе. Технические характеристики
Диапазон нагрузок 0…200Н
Диапазон скоростей растяжения/сжатия образца от 0,1 до 1,5мм/мин.
Максимальная величина деформации образца 35мм
Разрешение по нагрузке (по отношению к максимальной величине) 1000:1 (для динамических испытаний);
2000:1 (для статических испытаний)

JCM-6000PLUS идеально подходит для небольших лабораторий для проведения исследований небольших образцов. Он не требует от оператора наличия опыта работы с электронными микроскопами, не требует сложной подготовки образцов, и позволяет легко и быстро получать результаты исследований. Этот настольный растровый электронный микроскоп позволяет изучать строение поверхности объектов с разрешением, в десятки раз превосходящим разрешение оптических микроскопов, ограниченное дифракционным пределом для световых волн. Кроме исследования морфологии поверхности, он позволяет оценивать элементный состав образцов с локальностью в несколько кубических микрометров. Наличие низковакуумного режима и таких приставок, как столик с заморозкой образцов, позволяет проводить исследования биологических объектов и различных полимеров.

Специалисты всего мира по достоинству оценили РЭМ JCM-6000PLUS и активно используют его

  • в металлографических лабораториях - для получения высококачественных микрофотографий шлифов и сломов, анализа однородности различных сплавов, локального анализа различных металлических и неметаллических включений;
  • в химических лабораториях – для определения величины синтезированных частиц, изучения морфологии агломератов, оценки элементного состава входного сырья и продуктов синтеза;
  • в биологических лабораториях – для изучения строения различных частей растений (листьев, стеблей, корней, цветков, побегов), тканей животных (костной, мышечной, эпителия), строения насекомых, микроорганизмов и т.д.;
  • в пищевой промышленности – для анализа качества входного сырья и готовой пищевой продукции, разработки оптимальных условий её упаковки, хранения и транспортировки;
  • в геологии – для анализа морфологии и определения элементного состава минералов, исследования малых включений, определения пористости и проницаемости различных грунтов;
  • в криминалистике – для анализа различных объектов на наличие продуктов выстрела, для детального анализа различных улик, для определения подлинности документов, ювелирных украшений, банкнот, монет, слитков и т.д.;
  • в авиации – для анализа причин поломок различных деталей и механизмов, для анализа масел и топлив и определения степени износа различных узлов и агрегатов летательных аппаратов;
  • в археологии – для определения подлинности антиквариата, создания оптимальных методик реставрации культурных ценностей, изучения влияния условий хранения на структуру и свойства экспонатов (картин, статуй, украшений, оружия, посуды и т.п.);
  • в лабораториях санитарно-эпидемиологической службы – для определения видов и подвидов бактерий, грибков, лишайников и других микроорганизмов;
  • в ювелирном деле – для анализа качества входного сырья, ювелирных изделий, для установления подлинности украшений;
  • в ВУЗах - для обучения студентов основам электронной микроскопии и микроанализа.
Наверх