Инспекционные микроскопы
Модульная конструкция микроскопа Nikon Eclipse LV100ND с ручным управлением для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, позволяет управлять сменой объективов и интенсивностью освещения с помощью блока управления камерой DS-L3 и автоматически распознает метод наблюдения
Nikon ECLIPSE LV100ND
Модульная конструкция микроскопа Nikon Eclipse LV100ND с ручным управлением для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, позволяет управлять сменой объективов и интенсивностью освещения с помощью блока управления камерой DS-L3 и автоматически распознает метод наблюдения
Модульная конструкция микроскопа Nikon Eclipse LV100ND с ручным управлением для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, позволяет управлять сменой объективов и интенсивностью освещения с помощью блока управления камерой DS-L3 и автоматически распознает метод наблюдения
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV-N делает их универсальными с применением в различных отраслях. Устройства Eclipse LV-N могут использоваться для исследования самых разных образцов и в самых разных сферах применения - от разработки и контроля качества до осуществления технологического контроля в процессе производства
Nikon ECLIPSE LV150N
Модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV-N делает их универсальными с применением в различных отраслях. Устройства Eclipse LV-N могут использоваться для исследования самых разных образцов и в самых разных сферах применения - от разработки и контроля качества до осуществления технологического контроля в процессе производства
Модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV-N делает их универсальными с применением в различных отраслях. Устройства Eclipse LV-N могут использоваться для исследования самых разных образцов и в самых разных сферах применения - от разработки и контроля качества до осуществления технологического контроля в процессе производства
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Nikon BW-D500
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Nikon Eclipse L200N, L200ND
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L300N/L300ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L300N/L300ND являются микроскопы Nikon Eclipse L300/L300D. L300N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении L300ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 300 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Nikon Eclipse L300N, L300ND
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L300N/L300ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L300N/L300ND являются микроскопы Nikon Eclipse L300/L300D. L300N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении L300ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 300 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L300N/L300ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L300N/L300ND являются микроскопы Nikon Eclipse L300/L300D. L300N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении L300ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 300 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Инспекционные микроскопы Nikon предназначены для изучения поверхности полупроводниковых пластин, печатных плат и электронных компонентов. Объектив расположен над поверхностью образца. Поэтому важнейшим параметром является рабочее расстояние объектива, позволяющее изучать элементы, расположенные на разной высоте. Для наблюдения мелких деталей и незначительных различий используется метод темного поля, позволяющий регистрировать только свет, рассеянный образцом.