Установки для микроэлектроники
Портативные микроскопы с разрешением Full HD для быстрой инспекции полупроводниковых деталей в промышленности. Простое в использовании, быстрое и точное решение для контроля качества комплектующих. Позволяет осуществлять монтажные операции (пайку, сборку) на микросхемах. Получение изображений и проведение замеров без использования компьютера!
Безокулярный портативный цифровой микроскоп ASH
Портативные микроскопы с разрешением Full HD для быстрой инспекции полупроводниковых деталей в промышленности. Простое в использовании, быстрое и точное решение для контроля качества комплектующих. Позволяет осуществлять монтажные операции (пайку, сборку) на микросхемах. Получение изображений и проведение замеров без использования компьютера!
Портативные микроскопы с разрешением Full HD для быстрой инспекции полупроводниковых деталей в промышленности. Простое в использовании, быстрое и точное решение для контроля качества комплектующих. Позволяет осуществлять монтажные операции (пайку, сборку) на микросхемах. Получение изображений и проведение замеров без использования компьютера!
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Система предназначена для инспекции MEMS и полупроводниковых пластин. Микроскоп состоит из столика с возможностью перемещения, револьвера, камеры и программного обеспечения для обработки изображений. Данная модель подходит для изучения материалов, прозрачных в ближнем и коротковолновом ИК диапазоне
Инфракрасный микроскоп
Система предназначена для инспекции MEMS и полупроводниковых пластин. Микроскоп состоит из столика с возможностью перемещения, револьвера, камеры и программного обеспечения для обработки изображений. Данная модель подходит для изучения материалов, прозрачных в ближнем и коротковолновом ИК диапазоне
Система предназначена для инспекции MEMS и полупроводниковых пластин. Микроскоп состоит из столика с возможностью перемещения, револьвера, камеры и программного обеспечения для обработки изображений. Данная модель подходит для изучения материалов, прозрачных в ближнем и коротковолновом ИК диапазоне
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Разработка микроэлектроники в R&D центрах и университетах
Привода, датчики давления, датчики ускорения, устройства питания и т. д.
Экспонирование Flip Chip/BGA/CSP
Привода, датчики давления, датчики ускорения, устройства питания и т. д.
Экспонирование Flip Chip/BGA/CSP
Установка совмещения и экспонирования
Разработка микроэлектроники в R&D центрах и университетах
Привода, датчики давления, датчики ускорения, устройства питания и т. д.
Экспонирование Flip Chip/BGA/CSP
Разработка микроэлектроники в R&D центрах и университетах
Привода, датчики давления, датчики ускорения, устройства питания и т. д.
Экспонирование Flip Chip/BGA/CSP
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Такие микроскопы служат для наложения верхней и нижней структуры пластины в одном поле зрения, чтобы затем измерить величину сдвига посредством сравнения смещения изображений.
Микроскоп для контроля сторон пластины
Такие микроскопы служат для наложения верхней и нижней структуры пластины в одном поле зрения, чтобы затем измерить величину сдвига посредством сравнения смещения изображений.
Такие микроскопы служат для наложения верхней и нижней структуры пластины в одном поле зрения, чтобы затем измерить величину сдвига посредством сравнения смещения изображений.
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Компактная безмасочная фотолитографическая система PALET DDB-701
Система PALET DDB-701
Компактная безмасочная фотолитографическая система PALET DDB-701
Компактная безмасочная фотолитографическая система PALET DDB-701
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV-N делает их универсальными с применением в различных отраслях. Устройства Eclipse LV-N могут использоваться для исследования самых разных образцов и в самых разных сферах применения - от разработки и контроля качества до осуществления технологического контроля в процессе производства
Nikon ECLIPSE LV150N
Модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV-N делает их универсальными с применением в различных отраслях. Устройства Eclipse LV-N могут использоваться для исследования самых разных образцов и в самых разных сферах применения - от разработки и контроля качества до осуществления технологического контроля в процессе производства
Модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV-N делает их универсальными с применением в различных отраслях. Устройства Eclipse LV-N могут использоваться для исследования самых разных образцов и в самых разных сферах применения - от разработки и контроля качества до осуществления технологического контроля в процессе производства
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Nikon Eclipse L200N, L200ND
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru