Инфракрасный микроскоп

Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru

Система предназначена для инспекции MEMS и полупроводниковых пластин. Микроскоп состоит из столика с возможностью перемещения, револьвера, камеры и программного обеспечения для обработки изображений. Данная модель подходит для изучения материалов, прозрачных в ближнем и коротковолновом ИК диапазоне

Особенности

Диапазон длин волн	400-2000 нм
Объективы	1х, 2.5х, 5х, 10х, 20х, 50х, 100х
Количество позиций в револьвере	4
Цифровая камера	В зависимости от диапазона

Сравнение изображений кремниевой пластины

Видимая область

Ближняя ИК-область