Микроскоп для контроля лицевой и обратной стороны пластины
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Такие микроскопы служат для наложения верхней и нижней структуры пластины в одном поле зрения, чтобы затем измерить величину сдвига посредством сравнения смещения изображений.
- Легкая юстировка пучка
- Просмотр каждого изображения (верх/низ пластины) по отдельности.
- Возможна модификация системы для пластин диаметром до 4 и 6 дюймов.
- Поставляется с выводом изображения на камеру C-Mount.
| 6" | 4" | |
|---|---|---|
| Объективы верх/низ | 5-10-20-40-100x | |
| Окуляры | 10X (с микрометром) | |
| Итоговое увеличение | от 50X до 1000X | |
| Ход верхнего объектива | 24 мм | 30 мм |
| Ход нижнего объектива | 3 мм | 12 мм |
| Фильтр | Верх: зеленый / низ: красный | |
| Ход столика XY | 150 x 150 мм управление вручную | 50х50 мм либо 100х100 мм управление вручную |
| Считывающее устройство | Предел считывания 1 мкм | |
| Держатель для пластин | Максимум: 6 дюймов | Максимум: 4 дюйма |
| Также возможны варианты под заказ | ||
| Вращение стола | 360° | |
| Подсветка | Галогеновая лампа 150 Вт | |
| Толщина материала | 20 мм или меньше | 30 мм или меньше |