Новые объективы для сверхразрешающих микроскопов Nikon N-SIM

Объективы серии SR были созданы специально для получения превосходных изображений на сверхразрешающих микроскопах Nikon. В процессе их производства применяется точная настройка и контроль линз путем измерения волновых аберраций для достижения высочайших оптических характеристик с минимально возможными асимметричными аберрациями.

CFI SR PLAN APO IR 60X WI

Водоиммерсионный
Числовая апертура (NA): 1.27
Рабочее расстояние (WD): 0.17 мм
Коррекция для покровных стекол толщиной 0.15-0.19 мм

CFI SR APO TIRF 100xH

Масляноиммерсионный
Числовая апертура (NA): 1.49
Рабочее расстояние (WD): 0.12 мм
Коррекция для покровных стекол толщиной 0.13-0.20 мм