TOKYO BOEKI - официальный дистрибьютор Nikon на территории России и в других странах СНГ
ОПТИЧЕСКИЕ МИКРОСКОПЫ И СИСТЕМЫ ИЗМЕРЕНИЯ
Телефон:
+7-495-223-4000
Факс:
+7-495-223-4001
E-mail:
main@tokyo-boeki.ru

Микроскопы для пластин и фотошаблонов

Микроскоп проходящего и падающего света, инспекционный
Быстрый просмотр Подробное описание  
Модульная конструкция микроскопа Nikon Eclipse LV100ND с ручным управлением для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, позволяет управлять сменой объективов и интенсивностью освещения с помощью блока управления камерой DS-L3 и автоматически распознает метод наблюдения
Микроскоп падающего света, инспекционный
Быстрый просмотр Подробное описание  
Модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV-N делает их универсальными с применением в различных отраслях. Устройства Eclipse LV-N могут использоваться для исследования самых разных образцов и в самых разных сферах применения - от разработки и контроля качества до осуществления технологического контроля в процессе производства
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L300N/L300ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L300N/L300ND являются микроскопы Nikon Eclipse L300/L300D. L300N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении L300ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 300 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Наверх