Микроскопы для микроэлектроники и приборостроения
Модульная конструкция микроскопа Nikon Eclipse LV100ND с ручным управлением для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, позволяет управлять сменой объективов и интенсивностью освещения с помощью блока управления камерой DS-L3 и автоматически распознает метод наблюдения
Nikon ECLIPSE LV100ND
Модульная конструкция микроскопа Nikon Eclipse LV100ND с ручным управлением для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, позволяет управлять сменой объективов и интенсивностью освещения с помощью блока управления камерой DS-L3 и автоматически распознает метод наблюдения
Модульная конструкция микроскопа Nikon Eclipse LV100ND с ручным управлением для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, позволяет управлять сменой объективов и интенсивностью освещения с помощью блока управления камерой DS-L3 и автоматически распознает метод наблюдения
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV-N делает их универсальными с применением в различных отраслях. Устройства Eclipse LV-N могут использоваться для исследования самых разных образцов и в самых разных сферах применения - от разработки и контроля качества до осуществления технологического контроля в процессе производства
Nikon ECLIPSE LV150N
Модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV-N делает их универсальными с применением в различных отраслях. Устройства Eclipse LV-N могут использоваться для исследования самых разных образцов и в самых разных сферах применения - от разработки и контроля качества до осуществления технологического контроля в процессе производства
Модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV-N делает их универсальными с применением в различных отраслях. Устройства Eclipse LV-N могут использоваться для исследования самых разных образцов и в самых разных сферах применения - от разработки и контроля качества до осуществления технологического контроля в процессе производства
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Nikon BW-D500
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Nikon Eclipse L200N, L200ND
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L300N/L300ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L300N/L300ND являются микроскопы Nikon Eclipse L300/L300D. L300N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении L300ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 300 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Nikon Eclipse L300N, L300ND
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L300N/L300ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L300N/L300ND являются микроскопы Nikon Eclipse L300/L300D. L300N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении L300ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 300 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L300N/L300ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L300N/L300ND являются микроскопы Nikon Eclipse L300/L300D. L300N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении L300ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 300 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Практичное решение для полупроводниковой промышленности, проверки интегральных схем, чипов, плат, при сборке часов и ремонте электроники, пайки, геологии и минералогии.
3D стереоскопический видеомикроскоп TBE-1
Практичное решение для полупроводниковой промышленности, проверки интегральных схем, чипов, плат, при сборке часов и ремонте электроники, пайки, геологии и минералогии.
Практичное решение для полупроводниковой промышленности, проверки интегральных схем, чипов, плат, при сборке часов и ремонте электроники, пайки, геологии и минералогии.
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Эргономичная конструкция позволяет сосредоточиться на наблюдении, а не на управлении микроскопом.
Благодаря использованию дополнительных объективов, являющихся разработкой Nikon, микроскоп SMZ 660 обладает коэффициентом трансфокации 6,3х, что позволяет устанавливать оптимальное увеличение для каждого вида исследуемых образцов
Nikon SMZ645, SMZ660
Эргономичная конструкция позволяет сосредоточиться на наблюдении, а не на управлении микроскопом. Благодаря использованию дополнительных объективов, являющихся разработкой Nikon, микроскоп SMZ 660 обладает коэффициентом трансфокации 6,3х, что позволяет устанавливать оптимальное увеличение для каждого вида исследуемых образцов
Эргономичная конструкция позволяет сосредоточиться на наблюдении, а не на управлении микроскопом. Благодаря использованию дополнительных объективов, являющихся разработкой Nikon, микроскоп SMZ 660 обладает коэффициентом трансфокации 6,3х, что позволяет устанавливать оптимальное увеличение для каждого вида исследуемых образцов
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Целью компании Nikon при разработке модели SMZ800 было создание стереомикроскопа, который удовлетворял бы требованиям длительной комфортной работы и при этом обеспечивал отличное качество изображения. Модель SMZ800 имеет гибкую конфигурацию и допускают легкую модернизацию путем установки различных дополнительных принадлежностей и демонстрируют высочайшие оптические характеристики. Кроме того, их эргономичный дизайн обеспечивает удобство работы и минимизирует усталость оператора после долгой работы
Nikon SMZ800
Целью компании Nikon при разработке модели SMZ800 было создание стереомикроскопа, который удовлетворял бы требованиям длительной комфортной работы и при этом обеспечивал отличное качество изображения. Модель SMZ800 имеет гибкую конфигурацию и допускают легкую модернизацию путем установки различных дополнительных принадлежностей и демонстрируют высочайшие оптические характеристики. Кроме того, их эргономичный дизайн обеспечивает удобство работы и минимизирует усталость оператора после долгой работы
Целью компании Nikon при разработке модели SMZ800 было создание стереомикроскопа, который удовлетворял бы требованиям длительной комфортной работы и при этом обеспечивал отличное качество изображения. Модель SMZ800 имеет гибкую конфигурацию и допускают легкую модернизацию путем установки различных дополнительных принадлежностей и демонстрируют высочайшие оптические характеристики. Кроме того, их эргономичный дизайн обеспечивает удобство работы и минимизирует усталость оператора после долгой работы
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Целью компании Nikon при разработке модели SMZ1000 было создание стереомикроскопа, который удовлетворял бы требованиям длительной комфортной работы и при этом обеспечивал отличное качество изображения. Модель SMZ1000 имеет гибкую конфигурацию и допускают легкую модернизацию путем установки различных дополнительных принадлежностей и демонстрируют высочайшие оптические характеристики. Кроме того, их эргономичный дизайн обеспечивает удобство работы и минимизирует усталость оператора после долгой работы
Nikon SMZ1000
Целью компании Nikon при разработке модели SMZ1000 было создание стереомикроскопа, который удовлетворял бы требованиям длительной комфортной работы и при этом обеспечивал отличное качество изображения. Модель SMZ1000 имеет гибкую конфигурацию и допускают легкую модернизацию путем установки различных дополнительных принадлежностей и демонстрируют высочайшие оптические характеристики. Кроме того, их эргономичный дизайн обеспечивает удобство работы и минимизирует усталость оператора после долгой работы
Целью компании Nikon при разработке модели SMZ1000 было создание стереомикроскопа, который удовлетворял бы требованиям длительной комфортной работы и при этом обеспечивал отличное качество изображения. Модель SMZ1000 имеет гибкую конфигурацию и допускают легкую модернизацию путем установки различных дополнительных принадлежностей и демонстрируют высочайшие оптические характеристики. Кроме того, их эргономичный дизайн обеспечивает удобство работы и минимизирует усталость оператора после долгой работы
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Оптическая конструкция и критерии качества всей серии стереоскопических микроскопов Nikon позволяют получить высококачественные изображения с отличной плоскостностью изображения. Многослойные покрытия на поверхности объектива обеспечивают четкость, яркость и высокую контрастность изображений
Nikon SMZ445, SMZ460
Оптическая конструкция и критерии качества всей серии стереоскопических микроскопов Nikon позволяют получить высококачественные изображения с отличной плоскостностью изображения. Многослойные покрытия на поверхности объектива обеспечивают четкость, яркость и высокую контрастность изображений
Оптическая конструкция и критерии качества всей серии стереоскопических микроскопов Nikon позволяют получить высококачественные изображения с отличной плоскостностью изображения. Многослойные покрытия на поверхности объектива обеспечивают четкость, яркость и высокую контрастность изображений
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Универсальные стереомикроскопы Nikon SMZ800N обладают превосходными оптическими характеристиками, такими как большое увеличение, высокий коэффициент трансфокации и высокое разрешение, а также широкими эксплуатационными качествами. Возможность использования параллельной оптики делает эти модели подходящими для широкого спектра работ.
SMZ800N имеет диапазон трансфокации 1-8x и позволяет осуществить наблюдение с высоким разрешением 640 пар линий/мм (с использованием объектива ED Plan Apo 2x/WF при максимальном увеличении)
SMZ800N имеет диапазон трансфокации 1-8x и позволяет осуществить наблюдение с высоким разрешением 640 пар линий/мм (с использованием объектива ED Plan Apo 2x/WF при максимальном увеличении)
Nikon SMZ800N
Универсальные стереомикроскопы Nikon SMZ800N обладают превосходными оптическими характеристиками, такими как большое увеличение, высокий коэффициент трансфокации и высокое разрешение, а также широкими эксплуатационными качествами. Возможность использования параллельной оптики делает эти модели подходящими для широкого спектра работ.
SMZ800N имеет диапазон трансфокации 1-8x и позволяет осуществить наблюдение с высоким разрешением 640 пар линий/мм (с использованием объектива ED Plan Apo 2x/WF при максимальном увеличении)
Универсальные стереомикроскопы Nikon SMZ800N обладают превосходными оптическими характеристиками, такими как большое увеличение, высокий коэффициент трансфокации и высокое разрешение, а также широкими эксплуатационными качествами. Возможность использования параллельной оптики делает эти модели подходящими для широкого спектра работ.
SMZ800N имеет диапазон трансфокации 1-8x и позволяет осуществить наблюдение с высоким разрешением 640 пар линий/мм (с использованием объектива ED Plan Apo 2x/WF при максимальном увеличении)
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
В дополнение к высокой кратности масштабирования и увеличения, стереомикроскоп Nikon SMZ745T имеет большое рабочее расстояние, составляющее 115 мм. Конструкция модели SMZ745 с защитой от образования плесени и накопления электростатического напряжения обеспечивает возможность использования микроскопа в разных условиях
Nikon SMZ745, SMZ745T
В дополнение к высокой кратности масштабирования и увеличения, стереомикроскоп Nikon SMZ745T имеет большое рабочее расстояние, составляющее 115 мм. Конструкция модели SMZ745 с защитой от образования плесени и накопления электростатического напряжения обеспечивает возможность использования микроскопа в разных условиях
В дополнение к высокой кратности масштабирования и увеличения, стереомикроскоп Nikon SMZ745T имеет большое рабочее расстояние, составляющее 115 мм. Конструкция модели SMZ745 с защитой от образования плесени и накопления электростатического напряжения обеспечивает возможность использования микроскопа в разных условиях
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Универсальные стереомикроскопы Nikon SMZ1270 обладают превосходными оптическими характеристиками, такими как большое увеличение, высокий коэффициент трансфокации и высокое разрешение, а также широкими эксплуатационными качествами. Возможность использования параллельной оптики делает эти модели подходящими для широкого спектра работ
Nikon SMZ1270, SMZ1270i
Универсальные стереомикроскопы Nikon SMZ1270 обладают превосходными оптическими характеристиками, такими как большое увеличение, высокий коэффициент трансфокации и высокое разрешение, а также широкими эксплуатационными качествами. Возможность использования параллельной оптики делает эти модели подходящими для широкого спектра работ
Универсальные стереомикроскопы Nikon SMZ1270 обладают превосходными оптическими характеристиками, такими как большое увеличение, высокий коэффициент трансфокации и высокое разрешение, а также широкими эксплуатационными качествами. Возможность использования параллельной оптики делает эти модели подходящими для широкого спектра работ
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Области, в том числе молекулярная биология, клеточная биология, нейробиология, эмбриология, биология развития и системная биология, испытывают все большие потребности в системах визуализации, которые охватывают пространственные масштабы от одной клетки до целого организма. Понимая эти требования, компания Nikon разработала новый стереомикроскоп, который имеет более высокий коэффициент трансфокации 18:1, высокое разрешение и исключительную способность передачи флуоресценции
Nikon SMZ18
Области, в том числе молекулярная биология, клеточная биология, нейробиология, эмбриология, биология развития и системная биология, испытывают все большие потребности в системах визуализации, которые охватывают пространственные масштабы от одной клетки до целого организма. Понимая эти требования, компания Nikon разработала новый стереомикроскоп, который имеет более высокий коэффициент трансфокации 18:1, высокое разрешение и исключительную способность передачи флуоресценции
Области, в том числе молекулярная биология, клеточная биология, нейробиология, эмбриология, биология развития и системная биология, испытывают все большие потребности в системах визуализации, которые охватывают пространственные масштабы от одной клетки до целого организма. Понимая эти требования, компания Nikon разработала новый стереомикроскоп, который имеет более высокий коэффициент трансфокации 18:1, высокое разрешение и исключительную способность передачи флуоресценции
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Традиционные границы между научными областями, такими как молекулярная биология и биология развития, быстро исчезают, когда исследователи начинают использовать результаты, полученные на молекулярном уровне в ходе клеточных, тканевых исследований и исследований организмов. Области, в том числе молекулярная биология, клеточная биология, нейробиология, эмбриология, биология развития и системная биология, испытывают все большие потребности в системах визуализации, которые охватывают пространственные масштабы от одной клетки до целого организма. Понимая эти требования, компания Nikon разработала новый стереомикроскоп, который имеет более высокий коэффициент трансфокации 25:1, высокое разрешение и исключительную способность передачи флуоресценции
Nikon SMZ25
Традиционные границы между научными областями, такими как молекулярная биология и биология развития, быстро исчезают, когда исследователи начинают использовать результаты, полученные на молекулярном уровне в ходе клеточных, тканевых исследований и исследований организмов. Области, в том числе молекулярная биология, клеточная биология, нейробиология, эмбриология, биология развития и системная биология, испытывают все большие потребности в системах визуализации, которые охватывают пространственные масштабы от одной клетки до целого организма. Понимая эти требования, компания Nikon разработала новый стереомикроскоп, который имеет более высокий коэффициент трансфокации 25:1, высокое разрешение и исключительную способность передачи флуоресценции
Традиционные границы между научными областями, такими как молекулярная биология и биология развития, быстро исчезают, когда исследователи начинают использовать результаты, полученные на молекулярном уровне в ходе клеточных, тканевых исследований и исследований организмов. Области, в том числе молекулярная биология, клеточная биология, нейробиология, эмбриология, биология развития и системная биология, испытывают все большие потребности в системах визуализации, которые охватывают пространственные масштабы от одной клетки до целого организма. Понимая эти требования, компания Nikon разработала новый стереомикроскоп, который имеет более высокий коэффициент трансфокации 25:1, высокое разрешение и исключительную способность передачи флуоресценции
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Высокоточное решение для измерения размеров деталей в полупроводниковой промышленности, интегральных схем, чипов, плат, элементов часов и электроники.
Измерительный видеомикроскоп TBE-3
Высокоточное решение для измерения размеров деталей в полупроводниковой промышленности, интегральных схем, чипов, плат, элементов часов и электроники.
Высокоточное решение для измерения размеров деталей в полупроводниковой промышленности, интегральных схем, чипов, плат, элементов часов и электроники.
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Новый измерительный микроскоп Nikon может оснащаться системой лазерной автофокусировки и механизмом помощи при фокусировке для более точной фокусировки и прецизионных измерений по оси Z
Nikon MM-800
Новый измерительный микроскоп Nikon может оснащаться системой лазерной автофокусировки и механизмом помощи при фокусировке для более точной фокусировки и прецизионных измерений по оси Z
Новый измерительный микроскоп Nikon может оснащаться системой лазерной автофокусировки и механизмом помощи при фокусировке для более точной фокусировки и прецизионных измерений по оси Z
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Новый измерительный микроскоп Nikon может оснащаться системой лазерной автофокусировки и механизмом помощи при фокусировке для более точной фокусировки и прецизионных измерений по оси Z
Nikon MM-400
Новый измерительный микроскоп Nikon может оснащаться системой лазерной автофокусировки и механизмом помощи при фокусировке для более точной фокусировки и прецизионных измерений по оси Z
Новый измерительный микроскоп Nikon может оснащаться системой лазерной автофокусировки и механизмом помощи при фокусировке для более точной фокусировки и прецизионных измерений по оси Z
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Компактный, лёгкий, точный и простой в эксплуатации измерительный микроскоп для определения размеров и назначения допусков. Измерительный микроскоп Nikon MM-200 разработан специально для инженеров и контролёров ОТК
Nikon MM-200
Компактный, лёгкий, точный и простой в эксплуатации измерительный микроскоп для определения размеров и назначения допусков. Измерительный микроскоп Nikon MM-200 разработан специально для инженеров и контролёров ОТК
Компактный, лёгкий, точный и простой в эксплуатации измерительный микроскоп для определения размеров и назначения допусков. Измерительный микроскоп Nikon MM-200 разработан специально для инженеров и контролёров ОТК
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMR-12072 с величиной хода столика 1200 х 720 х 150 мм. Платформа позволяет производить измерения особо крупных деталей, в том числе панелей FPD, дисплеев LCD, органических люминесцентных подложек для дисплеев OLED
Nikon NEXIV VMR-12072
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMR-12072 с величиной хода столика 1200 х 720 х 150 мм. Платформа позволяет производить измерения особо крупных деталей, в том числе панелей FPD, дисплеев LCD, органических люминесцентных подложек для дисплеев OLED
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMR-12072 с величиной хода столика 1200 х 720 х 150 мм. Платформа позволяет производить измерения особо крупных деталей, в том числе панелей FPD, дисплеев LCD, органических люминесцентных подложек для дисплеев OLED
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMR-10080 с величиной хода столика 1000 х 800 х 150 мм. Платформа позволяет производить измерения крупных деталей, в том числе фотомасок для подложек, печатных плат, дисплеев LCD, органических люминесцентных подложек для OLED, цветных фильтров
Nikon NEXIV VMR-10080
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMR-10080 с величиной хода столика 1000 х 800 х 150 мм. Платформа позволяет производить измерения крупных деталей, в том числе фотомасок для подложек, печатных плат, дисплеев LCD, органических люминесцентных подложек для OLED, цветных фильтров
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMR-10080 с величиной хода столика 1000 х 800 х 150 мм. Платформа позволяет производить измерения крупных деталей, в том числе фотомасок для подложек, печатных плат, дисплеев LCD, органических люминесцентных подложек для OLED, цветных фильтров
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMR-1515 с величиной хода столика 150 х 150 х 150 мм. Платформа позволяет производить измерения мелких деталей, в том числе сборок, MEMS, подложек, полупроводниковых пластин, соединителей, прессованных и штампованных деталей, элементов автомобилей и часовых механизмов
Nikon NEXIV VMR-1515
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMR-1515 с величиной хода столика 150 х 150 х 150 мм. Платформа позволяет производить измерения мелких деталей, в том числе сборок, MEMS, подложек, полупроводниковых пластин, соединителей, прессованных и штампованных деталей, элементов автомобилей и часовых механизмов
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMR-1515 с величиной хода столика 150 х 150 х 150 мм. Платформа позволяет производить измерения мелких деталей, в том числе сборок, MEMS, подложек, полупроводниковых пластин, соединителей, прессованных и штампованных деталей, элементов автомобилей и часовых механизмов
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-H3030 с величиной хода столика 300 х 300 х 150 мм. Платформа позволяет производить высокоточные измерения небольших деталей, например, фотошаблонов, MEMS, корпусов деталей, микросборок, подложек, полупроводниковых пластин, прессованных и штампованных деталей
Nikon NEXIV VMZ-H3030
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-H3030 с величиной хода столика 300 х 300 х 150 мм. Платформа позволяет производить высокоточные измерения небольших деталей, например, фотошаблонов, MEMS, корпусов деталей, микросборок, подложек, полупроводниковых пластин, прессованных и штампованных деталей
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-H3030 с величиной хода столика 300 х 300 х 150 мм. Платформа позволяет производить высокоточные измерения небольших деталей, например, фотошаблонов, MEMS, корпусов деталей, микросборок, подложек, полупроводниковых пластин, прессованных и штампованных деталей
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-R6555 с величиной хода столика 650 х 550 мм. Такая система подойдет для измерения компонентов большого размера и серийных измерений нескольких деталей
Nikon NEXIV VMZ-R6555
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-R6555 с величиной хода столика 650 х 550 мм. Такая система подойдет для измерения компонентов большого размера и серийных измерений нескольких деталей
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-R6555 с величиной хода столика 650 х 550 мм. Такая система подойдет для измерения компонентов большого размера и серийных измерений нескольких деталей
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-R4540 с величиной хода столика 450 х 400 мм. Такая система подойдет для измерения компонентов среднего размера и серийных измерений нескольких деталей
Nikon NEXIV VMZ-R4540
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-R4540 с величиной хода столика 450 х 400 мм. Такая система подойдет для измерения компонентов среднего размера и серийных измерений нескольких деталей
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-R4540 с величиной хода столика 450 х 400 мм. Такая система подойдет для измерения компонентов среднего размера и серийных измерений нескольких деталей
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon iNEXIV VMA-6555 с величиной хода столика 650 х 550 х 200 мм разработана в соответствии с требованиями автоматических измерений механических частей, электронных компонентов, штампов и пресс-форм
Nikon iNEXIV VMA-6555
Модель микроскопа Nikon iNEXIV VMA-6555 с величиной хода столика 650 х 550 х 200 мм разработана в соответствии с требованиями автоматических измерений механических частей, электронных компонентов, штампов и пресс-форм
Модель микроскопа Nikon iNEXIV VMA-6555 с величиной хода столика 650 х 550 х 200 мм разработана в соответствии с требованиями автоматических измерений механических частей, электронных компонентов, штампов и пресс-форм
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-R3020 с величиной хода столика 300 х 200 мм. Такая система подойдет для измерения мелких компонентов, в том числе механических, электронных, прессованных, штампованных и других деталей
Nikon NEXIV VMZ-R3020
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-R3020 с величиной хода столика 300 х 200 мм. Такая система подойдет для измерения мелких компонентов, в том числе механических, электронных, прессованных, штампованных и других деталей
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-R3020 с величиной хода столика 300 х 200 мм. Такая система подойдет для измерения мелких компонентов, в том числе механических, электронных, прессованных, штампованных и других деталей
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon iNEXIV VMA-4540 с величиной хода столика 450 х 400 х 200 мм разработана в соответствии с требованиями автоматических измерений механических частей, электронных компонентов, штампов и пресс-форм
Nikon iNEXIV VMA-4540
Модель микроскопа Nikon iNEXIV VMA-4540 с величиной хода столика 450 х 400 х 200 мм разработана в соответствии с требованиями автоматических измерений механических частей, электронных компонентов, штампов и пресс-форм
Модель микроскопа Nikon iNEXIV VMA-4540 с величиной хода столика 450 х 400 х 200 мм разработана в соответствии с требованиями автоматических измерений механических частей, электронных компонентов, штампов и пресс-форм
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon iNEXIV VMA-2520 с величиной хода столика 250 х 200 х 200 мм разработана в соответствии с требованиями автоматических измерений механических частей, электронных компонентов, штампов и пресс-форм
Nikon iNEXIV VMA-2520
Модель микроскопа Nikon iNEXIV VMA-2520 с величиной хода столика 250 х 200 х 200 мм разработана в соответствии с требованиями автоматических измерений механических частей, электронных компонентов, штампов и пресс-форм
Модель микроскопа Nikon iNEXIV VMA-2520 с величиной хода столика 250 х 200 х 200 мм разработана в соответствии с требованиями автоматических измерений механических частей, электронных компонентов, штампов и пресс-форм
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru