TOKYO BOEKI - официальный дистрибьютор Nikon на территории России и в других странах СНГ
ОПТИЧЕСКИЕ МИКРОСКОПЫ И СИСТЕМЫ ИЗМЕРЕНИЯ
Телефон:
+7-495-223-4000
Факс:
+7-495-223-4001
E-mail:
main@tokyo-boeki.ru
Система предназначена для инспекции MEMS и полупроводниковых пластин. Микроскоп состоит из столика с возможностью перемещения, револьвера, камеры и программного обеспечения для обработки изображений. Данная модель подходит для изучения материалов, прозрачных в ближнем и коротковолновом ИК диапазоне
JCM-7000 – многофункциональный настольный растровый электронный микроскоп четвертого поколения, производимый японской компанией JEOL Ltd. Он предназначенный для изучения образцов диаметром до 80 мм и высотой до 50 мм с разрешением порядка нескольких десятков нанометров
Система была разработана как комплексное решение для судебно-медицинской экспертизы небольших осколков стекла методом погружной микроскопии. Система была разработана в тесном сотрудничестве со специалистами-криминалистами по анализу стекла, чтобы обеспечить точность, воспроизводимость и высокий комфорт работы.
Исследовательский микроскоп Nikon с высокоточным моторизованным столом и качественным спектрометром гарантирует универсальное решение для спектрального анализа различных следов в судебной экспертизе, включая волокна, краску или чернила.
Система баллистической экспертизы была разработана для проверки и сравнения маркировки на отработанных боеприпасах. Гильзы и патроны проверяются, сравниваются, сканируются в 2D или 3D и сохраняются в базе данных. Специальное программное обеспечение выполняет поиск в базе данных и отображает список возможных совпадений. Судебный эксперт-криминалист имеет полный набор функций сравнения для подтверждения соответствия.
Разработка микроэлектроники в R&D центрах и университетах
Привода, датчики давления, датчики ускорения, устройства питания и т. д.
Экспонирование Flip Chip/BGA/CSP
Такие микроскопы служат для наложения верхней и нижней структуры пластины в одном поле зрения, чтобы затем измерить величину сдвига посредством сравнения смещения изображений.
Настольная литографическая система
Быстрый просмотр Подробное описание  
Компактная безмасочная фотолитографическая система PALET DDB-701
ВЫПУСК ПРЕКРАЩЕН
Стереомикроскоп
Быстрый просмотр Подробное описание  
Эргономичная конструкция позволяет сосредоточиться на наблюдении, а не на управлении микроскопом. Благодаря использованию дополнительных объективов, являющихся разработкой Nikon, микроскоп SMZ 660 обладает коэффициентом трансфокации 6,3х, что позволяет устанавливать оптимальное увеличение для каждого вида исследуемых образцов
ВЫПУСК ПРЕКРАЩЕН
Стереомикроскоп
Быстрый просмотр Подробное описание  
Целью компании Nikon при разработке модели SMZ800 было создание стереомикроскопа, который удовлетворял бы требованиям длительной комфортной работы и при этом обеспечивал отличное качество изображения. Модель SMZ800 имеет гибкую конфигурацию и допускают легкую модернизацию путем установки различных дополнительных принадлежностей и демонстрируют высочайшие оптические характеристики. Кроме того, их эргономичный дизайн обеспечивает удобство работы и минимизирует усталость оператора после долгой работы
ВЫПУСК ПРЕКРАЩЕН
Стереомикроскоп
Быстрый просмотр Подробное описание  
Целью компании Nikon при разработке модели SMZ1000 было создание стереомикроскопа, который удовлетворял бы требованиям длительной комфортной работы и при этом обеспечивал отличное качество изображения. Модель SMZ1000 имеет гибкую конфигурацию и допускают легкую модернизацию путем установки различных дополнительных принадлежностей и демонстрируют высочайшие оптические характеристики. Кроме того, их эргономичный дизайн обеспечивает удобство работы и минимизирует усталость оператора после долгой работы
Оптическая конструкция и критерии качества всей серии стереоскопических микроскопов Nikon позволяют получить высококачественные изображения с отличной плоскостностью изображения. Многослойные покрытия на поверхности объектива обеспечивают четкость, яркость и высокую контрастность изображений
Универсальные стереомикроскопы Nikon SMZ800N обладают превосходными оптическими характеристиками, такими как большое увеличение, высокий коэффициент трансфокации и высокое разрешение, а также широкими эксплуатационными качествами. Возможность использования параллельной оптики делает эти модели подходящими для широкого спектра работ.
SMZ800N имеет диапазон трансфокации 1-8x и позволяет осуществить наблюдение с высоким разрешением 640 пар линий/мм (с использованием объектива ED Plan Apo 2x/WF при максимальном увеличении)
В дополнение к высокой кратности масштабирования и увеличения, стереомикроскоп Nikon SMZ745T имеет большое рабочее расстояние, составляющее 115 мм. Конструкция модели SMZ745 с защитой от образования плесени и накопления электростатического напряжения обеспечивает возможность использования микроскопа в разных условиях
Универсальные стереомикроскопы Nikon SMZ1270 обладают превосходными оптическими характеристиками, такими как большое увеличение, высокий коэффициент трансфокации и высокое разрешение, а также широкими эксплуатационными качествами. Возможность использования параллельной оптики делает эти модели подходящими для широкого спектра работ
Области, в том числе молекулярная биология, клеточная биология, нейробиология, эмбриология, биология развития и системная биология, испытывают все большие потребности в системах визуализации, которые охватывают пространственные масштабы от одной клетки до целого организма. Понимая эти требования, компания Nikon разработала новый стереомикроскоп, который имеет более высокий коэффициент трансфокации 18:1, высокое разрешение и исключительную способность передачи флуоресценции
Традиционные границы между научными областями, такими как молекулярная биология и биология развития, быстро исчезают, когда исследователи начинают использовать результаты, полученные на молекулярном уровне в ходе клеточных, тканевых исследований и исследований организмов. Области, в том числе молекулярная биология, клеточная биология, нейробиология, эмбриология, биология развития и системная биология, испытывают все большие потребности в системах визуализации, которые охватывают пространственные масштабы от одной клетки до целого организма. Понимая эти требования, компания Nikon разработала новый стереомикроскоп, который имеет более высокий коэффициент трансфокации 25:1, высокое разрешение и исключительную способность передачи флуоресценции
НОВИНКА
Металлографический микроскоп
Быстрый просмотр Подробное описание  
NIKON ECLIPSE MA100N - модель со светодиодным освещением, без необходимости замены лампы.
MA100N - это инвертированный микроскоп, специально разработанный для работы в отраженном свете по методу светлого поля, а также в поляризованном свете. Компактная и эргономичная конструкция делают этот микроскоп идеальным настольным решением для исследования образцов в металлургии, микроэлектронике, для анализа дефектов материалов, а также выполнения комплекса работ по контролю качества продукции
Инвертированный металлографический микроскоп Nikon ECLIPSE MA200. Простое и удобное управление с передней панели. Компактная конструкция корпуса.
Микроскоп проходящего и падающего света, инспекционный
Быстрый просмотр Подробное описание  
Модульная конструкция микроскопа Nikon Eclipse LV100ND с ручным управлением для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, позволяет управлять сменой объективов и интенсивностью освещения с помощью блока управления камерой DS-L3 и автоматически распознает метод наблюдения
Микроскоп отраженного света, инспекционный
Быстрый просмотр Подробное описание  
Модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV-N делает их универсальными с применением в различных отраслях. Устройства Eclipse LV-N могут использоваться для исследования самых разных образцов и в самых разных сферах применения - от разработки и контроля качества до осуществления технологического контроля в процессе производства
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L300N/L300ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L300N/L300ND являются микроскопы Nikon Eclipse L300/L300D. L300N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении L300ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 300 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Специалисты компании Nikon разработали новый галогеновый осветитель высокой интенсивности мощностью 50 Вт, обеспечивающий яркость, большую, чем от лампы мощностью 100 Вт. Яркость повышается примерно на 20-40% при кратности объективов от 50x и более. Новый осветитель потребляет меньше энергии и производит очень мало тепла, что значительно уменьшает смещение фокуса, вызванное воздействием тепла от источника света. Яркость не определяется одной лишь мощностью!
Знаменитая оптика Nikon – серия CFI60 успешно сочетает в себе большие рабочие расстояния и высокие числовые апертуры и позволяет получать четкие изображения без аберраций независимо от кратности объектива. В объективах серии CFI используется экологически безопасное стекло, не содержащее таких вредных веществ, как свинец и мышьяк, их конструкция создавалась с заботой об окружающей среде.
НОВИНКА
Тонкий и компактный микроскоп
Быстрый просмотр Подробное описание  
Знаменитая оптика Nikon – серия CFI60 успешно сочетает в себе большие рабочие расстояния и высокие числовые апертуры и позволяет получать четкие изображения без аберраций независимо от кратности объектива. В объективах серии CFI используется экологически безопасное стекло, не содержащее таких вредных веществ, как свинец и мышьяк, их конструкция создавалась с заботой об окружающей среде.

Индустриальные микроскопы применяются в полупроводниковой промышленности, микроэлектронике, приборостроении, радиоэлектронике, машиностроении и металлургии.

Промышленные микроскопы служат для осуществления монтажных операций и подготовки образцов для электронной микроскопии, для контроля качества печатных плат, интегральных схем, пластин, подложек, дисплеев, MEMS, фотошаблонов, пленок и полимеров, а также деталей приборов.

Индустриальные микроскопы используют для изучения геологических образцов (шлифы, аншлифы), руд, минералов, металлов и сплавов, анализа структуры и зернистости, дисперсности и анизотропии.

Наверх