Промышленные микроскопы
Компактный микроскоп, специально разработанный для работы в отраженном свете и проходящем с использованием как светлого поля, так и простой поляризации. Эргономичная конструкция и простота работы делают микроскоп идеальным настольным решением для исследования образцов в металлургии, контроля микроэлектронных устройств, анализа дефектов, материаловедения, инспекции полупроводниковых пластин и сборок, геологии и минералогии, а также выполнения комплекса работ по контролю качества продукции.
Металлографический микроскоп TBE-4
Компактный микроскоп, специально разработанный для работы в отраженном свете и проходящем с использованием как светлого поля, так и простой поляризации. Эргономичная конструкция и простота работы делают микроскоп идеальным настольным решением для исследования образцов в металлургии, контроля микроэлектронных устройств, анализа дефектов, материаловедения, инспекции полупроводниковых пластин и сборок, геологии и минералогии, а также выполнения комплекса работ по контролю качества продукции.
Компактный микроскоп, специально разработанный для работы в отраженном свете и проходящем с использованием как светлого поля, так и простой поляризации. Эргономичная конструкция и простота работы делают микроскоп идеальным настольным решением для исследования образцов в металлургии, контроля микроэлектронных устройств, анализа дефектов, материаловедения, инспекции полупроводниковых пластин и сборок, геологии и минералогии, а также выполнения комплекса работ по контролю качества продукции.
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Практичное решение для полупроводниковой промышленности, проверки интегральных схем, чипов, плат, при сборке часов и ремонте электроники, пайки, геологии и минералогии.
3D стереоскопический видеомикроскоп TBE-1
Практичное решение для полупроводниковой промышленности, проверки интегральных схем, чипов, плат, при сборке часов и ремонте электроники, пайки, геологии и минералогии.
Практичное решение для полупроводниковой промышленности, проверки интегральных схем, чипов, плат, при сборке часов и ремонте электроники, пайки, геологии и минералогии.
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Портативные микроскопы с разрешением Full HD для быстрой инспекции полупроводниковых деталей в промышленности. Простое в использовании, быстрое и точное решение для контроля качества комплектующих. Позволяет осуществлять монтажные операции (пайку, сборку) на микросхемах. Получение изображений и проведение замеров без использования компьютера!
Безокулярный портативный цифровой микроскоп ASH
Портативные микроскопы с разрешением Full HD для быстрой инспекции полупроводниковых деталей в промышленности. Простое в использовании, быстрое и точное решение для контроля качества комплектующих. Позволяет осуществлять монтажные операции (пайку, сборку) на микросхемах. Получение изображений и проведение замеров без использования компьютера!
Портативные микроскопы с разрешением Full HD для быстрой инспекции полупроводниковых деталей в промышленности. Простое в использовании, быстрое и точное решение для контроля качества комплектующих. Позволяет осуществлять монтажные операции (пайку, сборку) на микросхемах. Получение изображений и проведение замеров без использования компьютера!
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Система предназначена для инспекции MEMS и полупроводниковых пластин. Микроскоп состоит из столика с возможностью перемещения, револьвера, камеры и программного обеспечения для обработки изображений. Данная модель подходит для изучения материалов, прозрачных в ближнем и коротковолновом ИК диапазоне
Инфракрасный микроскоп
Система предназначена для инспекции MEMS и полупроводниковых пластин. Микроскоп состоит из столика с возможностью перемещения, револьвера, камеры и программного обеспечения для обработки изображений. Данная модель подходит для изучения материалов, прозрачных в ближнем и коротковолновом ИК диапазоне
Система предназначена для инспекции MEMS и полупроводниковых пластин. Микроскоп состоит из столика с возможностью перемещения, револьвера, камеры и программного обеспечения для обработки изображений. Данная модель подходит для изучения материалов, прозрачных в ближнем и коротковолновом ИК диапазоне
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
JCM-7000 – многофункциональный настольный растровый электронный микроскоп четвертого поколения, производимый японской компанией JEOL Ltd. Он предназначенный для изучения образцов диаметром до 80 мм и высотой до 50 мм с разрешением порядка нескольких десятков нанометров
JEOL JCM-7000 (NEOSCOPE)
JCM-7000 – многофункциональный настольный растровый электронный микроскоп четвертого поколения, производимый японской компанией JEOL Ltd. Он предназначенный для изучения образцов диаметром до 80 мм и высотой до 50 мм с разрешением порядка нескольких десятков нанометров
JCM-7000 – многофункциональный настольный растровый электронный микроскоп четвертого поколения, производимый японской компанией JEOL Ltd. Он предназначенный для изучения образцов диаметром до 80 мм и высотой до 50 мм с разрешением порядка нескольких десятков нанометров
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Система была разработана как комплексное решение для судебно-медицинской экспертизы небольших осколков стекла методом погружной микроскопии. Система была разработана в тесном сотрудничестве со специалистами-криминалистами по анализу стекла, чтобы обеспечить точность, воспроизводимость и высокий комфорт работы.
Система измерения показателя преломления
Система была разработана как комплексное решение для судебно-медицинской экспертизы небольших осколков стекла методом погружной микроскопии. Система была разработана в тесном сотрудничестве со специалистами-криминалистами по анализу стекла, чтобы обеспечить точность, воспроизводимость и высокий комфорт работы.
Система была разработана как комплексное решение для судебно-медицинской экспертизы небольших осколков стекла методом погружной микроскопии. Система была разработана в тесном сотрудничестве со специалистами-криминалистами по анализу стекла, чтобы обеспечить точность, воспроизводимость и высокий комфорт работы.
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Исследовательский микроскоп Nikon с высокоточным моторизованным столом и качественным спектрометром гарантирует универсальное решение для спектрального анализа различных следов в судебной экспертизе, включая волокна, краску или чернила.
Микро-спектрометр
Исследовательский микроскоп Nikon с высокоточным моторизованным столом и качественным спектрометром гарантирует универсальное решение для спектрального анализа различных следов в судебной экспертизе, включая волокна, краску или чернила.
Исследовательский микроскоп Nikon с высокоточным моторизованным столом и качественным спектрометром гарантирует универсальное решение для спектрального анализа различных следов в судебной экспертизе, включая волокна, краску или чернила.
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Система баллистической экспертизы была разработана для проверки и сравнения маркировки на отработанных боеприпасах. Гильзы и патроны проверяются, сравниваются, сканируются в 2D или 3D и сохраняются в базе данных. Специальное программное обеспечение выполняет поиск в базе данных и отображает список возможных совпадений. Судебный эксперт-криминалист имеет полный набор функций сравнения для подтверждения соответствия.
Баллистическая система идентификации и сравнения
Система баллистической экспертизы была разработана для проверки и сравнения маркировки на отработанных боеприпасах. Гильзы и патроны проверяются, сравниваются, сканируются в 2D или 3D и сохраняются в базе данных. Специальное программное обеспечение выполняет поиск в базе данных и отображает список возможных совпадений. Судебный эксперт-криминалист имеет полный набор функций сравнения для подтверждения соответствия.
Система баллистической экспертизы была разработана для проверки и сравнения маркировки на отработанных боеприпасах. Гильзы и патроны проверяются, сравниваются, сканируются в 2D или 3D и сохраняются в базе данных. Специальное программное обеспечение выполняет поиск в базе данных и отображает список возможных совпадений. Судебный эксперт-криминалист имеет полный набор функций сравнения для подтверждения соответствия.
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Разработка микроэлектроники в R&D центрах и университетах
Привода, датчики давления, датчики ускорения, устройства питания и т. д.
Экспонирование Flip Chip/BGA/CSP
Привода, датчики давления, датчики ускорения, устройства питания и т. д.
Экспонирование Flip Chip/BGA/CSP
Установка совмещения и экспонирования
Разработка микроэлектроники в R&D центрах и университетах
Привода, датчики давления, датчики ускорения, устройства питания и т. д.
Экспонирование Flip Chip/BGA/CSP
Разработка микроэлектроники в R&D центрах и университетах
Привода, датчики давления, датчики ускорения, устройства питания и т. д.
Экспонирование Flip Chip/BGA/CSP
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Такие микроскопы служат для наложения верхней и нижней структуры пластины в одном поле зрения, чтобы затем измерить величину сдвига посредством сравнения смещения изображений.
Микроскоп для контроля сторон пластины
Такие микроскопы служат для наложения верхней и нижней структуры пластины в одном поле зрения, чтобы затем измерить величину сдвига посредством сравнения смещения изображений.
Такие микроскопы служат для наложения верхней и нижней структуры пластины в одном поле зрения, чтобы затем измерить величину сдвига посредством сравнения смещения изображений.
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Компактная безмасочная фотолитографическая система PALET DDB-701
Система PALET DDB-701
Компактная безмасочная фотолитографическая система PALET DDB-701
Компактная безмасочная фотолитографическая система PALET DDB-701
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Эргономичная конструкция позволяет сосредоточиться на наблюдении, а не на управлении микроскопом.
Благодаря использованию дополнительных объективов, являющихся разработкой Nikon, микроскоп SMZ 660 обладает коэффициентом трансфокации 6,3х, что позволяет устанавливать оптимальное увеличение для каждого вида исследуемых образцов
Nikon SMZ645, SMZ660
Эргономичная конструкция позволяет сосредоточиться на наблюдении, а не на управлении микроскопом. Благодаря использованию дополнительных объективов, являющихся разработкой Nikon, микроскоп SMZ 660 обладает коэффициентом трансфокации 6,3х, что позволяет устанавливать оптимальное увеличение для каждого вида исследуемых образцов
Эргономичная конструкция позволяет сосредоточиться на наблюдении, а не на управлении микроскопом. Благодаря использованию дополнительных объективов, являющихся разработкой Nikon, микроскоп SMZ 660 обладает коэффициентом трансфокации 6,3х, что позволяет устанавливать оптимальное увеличение для каждого вида исследуемых образцов
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Целью компании Nikon при разработке модели SMZ800 было создание стереомикроскопа, который удовлетворял бы требованиям длительной комфортной работы и при этом обеспечивал отличное качество изображения. Модель SMZ800 имеет гибкую конфигурацию и допускают легкую модернизацию путем установки различных дополнительных принадлежностей и демонстрируют высочайшие оптические характеристики. Кроме того, их эргономичный дизайн обеспечивает удобство работы и минимизирует усталость оператора после долгой работы
Nikon SMZ800
Целью компании Nikon при разработке модели SMZ800 было создание стереомикроскопа, который удовлетворял бы требованиям длительной комфортной работы и при этом обеспечивал отличное качество изображения. Модель SMZ800 имеет гибкую конфигурацию и допускают легкую модернизацию путем установки различных дополнительных принадлежностей и демонстрируют высочайшие оптические характеристики. Кроме того, их эргономичный дизайн обеспечивает удобство работы и минимизирует усталость оператора после долгой работы
Целью компании Nikon при разработке модели SMZ800 было создание стереомикроскопа, который удовлетворял бы требованиям длительной комфортной работы и при этом обеспечивал отличное качество изображения. Модель SMZ800 имеет гибкую конфигурацию и допускают легкую модернизацию путем установки различных дополнительных принадлежностей и демонстрируют высочайшие оптические характеристики. Кроме того, их эргономичный дизайн обеспечивает удобство работы и минимизирует усталость оператора после долгой работы
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Целью компании Nikon при разработке модели SMZ1000 было создание стереомикроскопа, который удовлетворял бы требованиям длительной комфортной работы и при этом обеспечивал отличное качество изображения. Модель SMZ1000 имеет гибкую конфигурацию и допускают легкую модернизацию путем установки различных дополнительных принадлежностей и демонстрируют высочайшие оптические характеристики. Кроме того, их эргономичный дизайн обеспечивает удобство работы и минимизирует усталость оператора после долгой работы
Nikon SMZ1000
Целью компании Nikon при разработке модели SMZ1000 было создание стереомикроскопа, который удовлетворял бы требованиям длительной комфортной работы и при этом обеспечивал отличное качество изображения. Модель SMZ1000 имеет гибкую конфигурацию и допускают легкую модернизацию путем установки различных дополнительных принадлежностей и демонстрируют высочайшие оптические характеристики. Кроме того, их эргономичный дизайн обеспечивает удобство работы и минимизирует усталость оператора после долгой работы
Целью компании Nikon при разработке модели SMZ1000 было создание стереомикроскопа, который удовлетворял бы требованиям длительной комфортной работы и при этом обеспечивал отличное качество изображения. Модель SMZ1000 имеет гибкую конфигурацию и допускают легкую модернизацию путем установки различных дополнительных принадлежностей и демонстрируют высочайшие оптические характеристики. Кроме того, их эргономичный дизайн обеспечивает удобство работы и минимизирует усталость оператора после долгой работы
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Оптическая конструкция и критерии качества всей серии стереоскопических микроскопов Nikon позволяют получить высококачественные изображения с отличной плоскостностью изображения. Многослойные покрытия на поверхности объектива обеспечивают четкость, яркость и высокую контрастность изображений
Nikon SMZ445, SMZ460
Оптическая конструкция и критерии качества всей серии стереоскопических микроскопов Nikon позволяют получить высококачественные изображения с отличной плоскостностью изображения. Многослойные покрытия на поверхности объектива обеспечивают четкость, яркость и высокую контрастность изображений
Оптическая конструкция и критерии качества всей серии стереоскопических микроскопов Nikon позволяют получить высококачественные изображения с отличной плоскостностью изображения. Многослойные покрытия на поверхности объектива обеспечивают четкость, яркость и высокую контрастность изображений
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Универсальные стереомикроскопы Nikon SMZ800N обладают превосходными оптическими характеристиками, такими как большое увеличение, высокий коэффициент трансфокации и высокое разрешение, а также широкими эксплуатационными качествами. Возможность использования параллельной оптики делает эти модели подходящими для широкого спектра работ.
SMZ800N имеет диапазон трансфокации 1-8x и позволяет осуществить наблюдение с высоким разрешением 640 пар линий/мм (с использованием объектива ED Plan Apo 2x/WF при максимальном увеличении)
SMZ800N имеет диапазон трансфокации 1-8x и позволяет осуществить наблюдение с высоким разрешением 640 пар линий/мм (с использованием объектива ED Plan Apo 2x/WF при максимальном увеличении)
Nikon SMZ800N
Универсальные стереомикроскопы Nikon SMZ800N обладают превосходными оптическими характеристиками, такими как большое увеличение, высокий коэффициент трансфокации и высокое разрешение, а также широкими эксплуатационными качествами. Возможность использования параллельной оптики делает эти модели подходящими для широкого спектра работ.
SMZ800N имеет диапазон трансфокации 1-8x и позволяет осуществить наблюдение с высоким разрешением 640 пар линий/мм (с использованием объектива ED Plan Apo 2x/WF при максимальном увеличении)
Универсальные стереомикроскопы Nikon SMZ800N обладают превосходными оптическими характеристиками, такими как большое увеличение, высокий коэффициент трансфокации и высокое разрешение, а также широкими эксплуатационными качествами. Возможность использования параллельной оптики делает эти модели подходящими для широкого спектра работ.
SMZ800N имеет диапазон трансфокации 1-8x и позволяет осуществить наблюдение с высоким разрешением 640 пар линий/мм (с использованием объектива ED Plan Apo 2x/WF при максимальном увеличении)
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
В дополнение к высокой кратности масштабирования и увеличения, стереомикроскоп Nikon SMZ745T имеет большое рабочее расстояние, составляющее 115 мм. Конструкция модели SMZ745 с защитой от образования плесени и накопления электростатического напряжения обеспечивает возможность использования микроскопа в разных условиях
Nikon SMZ745, SMZ745T
В дополнение к высокой кратности масштабирования и увеличения, стереомикроскоп Nikon SMZ745T имеет большое рабочее расстояние, составляющее 115 мм. Конструкция модели SMZ745 с защитой от образования плесени и накопления электростатического напряжения обеспечивает возможность использования микроскопа в разных условиях
В дополнение к высокой кратности масштабирования и увеличения, стереомикроскоп Nikon SMZ745T имеет большое рабочее расстояние, составляющее 115 мм. Конструкция модели SMZ745 с защитой от образования плесени и накопления электростатического напряжения обеспечивает возможность использования микроскопа в разных условиях
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Универсальные стереомикроскопы Nikon SMZ1270 обладают превосходными оптическими характеристиками, такими как большое увеличение, высокий коэффициент трансфокации и высокое разрешение, а также широкими эксплуатационными качествами. Возможность использования параллельной оптики делает эти модели подходящими для широкого спектра работ
Nikon SMZ1270, SMZ1270i
Универсальные стереомикроскопы Nikon SMZ1270 обладают превосходными оптическими характеристиками, такими как большое увеличение, высокий коэффициент трансфокации и высокое разрешение, а также широкими эксплуатационными качествами. Возможность использования параллельной оптики делает эти модели подходящими для широкого спектра работ
Универсальные стереомикроскопы Nikon SMZ1270 обладают превосходными оптическими характеристиками, такими как большое увеличение, высокий коэффициент трансфокации и высокое разрешение, а также широкими эксплуатационными качествами. Возможность использования параллельной оптики делает эти модели подходящими для широкого спектра работ
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Области, в том числе молекулярная биология, клеточная биология, нейробиология, эмбриология, биология развития и системная биология, испытывают все большие потребности в системах визуализации, которые охватывают пространственные масштабы от одной клетки до целого организма. Понимая эти требования, компания Nikon разработала новый стереомикроскоп, который имеет более высокий коэффициент трансфокации 18:1, высокое разрешение и исключительную способность передачи флуоресценции
Nikon SMZ18
Области, в том числе молекулярная биология, клеточная биология, нейробиология, эмбриология, биология развития и системная биология, испытывают все большие потребности в системах визуализации, которые охватывают пространственные масштабы от одной клетки до целого организма. Понимая эти требования, компания Nikon разработала новый стереомикроскоп, который имеет более высокий коэффициент трансфокации 18:1, высокое разрешение и исключительную способность передачи флуоресценции
Области, в том числе молекулярная биология, клеточная биология, нейробиология, эмбриология, биология развития и системная биология, испытывают все большие потребности в системах визуализации, которые охватывают пространственные масштабы от одной клетки до целого организма. Понимая эти требования, компания Nikon разработала новый стереомикроскоп, который имеет более высокий коэффициент трансфокации 18:1, высокое разрешение и исключительную способность передачи флуоресценции
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Традиционные границы между научными областями, такими как молекулярная биология и биология развития, быстро исчезают, когда исследователи начинают использовать результаты, полученные на молекулярном уровне в ходе клеточных, тканевых исследований и исследований организмов. Области, в том числе молекулярная биология, клеточная биология, нейробиология, эмбриология, биология развития и системная биология, испытывают все большие потребности в системах визуализации, которые охватывают пространственные масштабы от одной клетки до целого организма. Понимая эти требования, компания Nikon разработала новый стереомикроскоп, который имеет более высокий коэффициент трансфокации 25:1, высокое разрешение и исключительную способность передачи флуоресценции
Nikon SMZ25
Традиционные границы между научными областями, такими как молекулярная биология и биология развития, быстро исчезают, когда исследователи начинают использовать результаты, полученные на молекулярном уровне в ходе клеточных, тканевых исследований и исследований организмов. Области, в том числе молекулярная биология, клеточная биология, нейробиология, эмбриология, биология развития и системная биология, испытывают все большие потребности в системах визуализации, которые охватывают пространственные масштабы от одной клетки до целого организма. Понимая эти требования, компания Nikon разработала новый стереомикроскоп, который имеет более высокий коэффициент трансфокации 25:1, высокое разрешение и исключительную способность передачи флуоресценции
Традиционные границы между научными областями, такими как молекулярная биология и биология развития, быстро исчезают, когда исследователи начинают использовать результаты, полученные на молекулярном уровне в ходе клеточных, тканевых исследований и исследований организмов. Области, в том числе молекулярная биология, клеточная биология, нейробиология, эмбриология, биология развития и системная биология, испытывают все большие потребности в системах визуализации, которые охватывают пространственные масштабы от одной клетки до целого организма. Понимая эти требования, компания Nikon разработала новый стереомикроскоп, который имеет более высокий коэффициент трансфокации 25:1, высокое разрешение и исключительную способность передачи флуоресценции
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
NIKON ECLIPSE MA100N - модель со светодиодным освещением, без необходимости замены лампы.
MA100N - это инвертированный микроскоп, специально разработанный для работы в отраженном свете по методу светлого поля, а также в поляризованном свете. Компактная и эргономичная конструкция делают этот микроскоп идеальным настольным решением для исследования образцов в металлургии, микроэлектронике, для анализа дефектов материалов, а также выполнения комплекса работ по контролю качества продукции
MA100N - это инвертированный микроскоп, специально разработанный для работы в отраженном свете по методу светлого поля, а также в поляризованном свете. Компактная и эргономичная конструкция делают этот микроскоп идеальным настольным решением для исследования образцов в металлургии, микроэлектронике, для анализа дефектов материалов, а также выполнения комплекса работ по контролю качества продукции
Nikon Eclipse MA100N
NIKON ECLIPSE MA100N - модель со светодиодным освещением, без необходимости замены лампы.
MA100N - это инвертированный микроскоп, специально разработанный для работы в отраженном свете по методу светлого поля, а также в поляризованном свете. Компактная и эргономичная конструкция делают этот микроскоп идеальным настольным решением для исследования образцов в металлургии, микроэлектронике, для анализа дефектов материалов, а также выполнения комплекса работ по контролю качества продукции
NIKON ECLIPSE MA100N - модель со светодиодным освещением, без необходимости замены лампы.
MA100N - это инвертированный микроскоп, специально разработанный для работы в отраженном свете по методу светлого поля, а также в поляризованном свете. Компактная и эргономичная конструкция делают этот микроскоп идеальным настольным решением для исследования образцов в металлургии, микроэлектронике, для анализа дефектов материалов, а также выполнения комплекса работ по контролю качества продукции
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Инвертированный металлографический микроскоп Nikon ECLIPSE MA200. Простое и удобное управление с передней панели. Компактная конструкция корпуса.
Nikon Eclipse MA200
Инвертированный металлографический микроскоп Nikon ECLIPSE MA200. Простое и удобное управление с передней панели. Компактная конструкция корпуса.
Инвертированный металлографический микроскоп Nikon ECLIPSE MA200. Простое и удобное управление с передней панели. Компактная конструкция корпуса.
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модульная конструкция микроскопа Nikon Eclipse LV100ND с ручным управлением для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, позволяет управлять сменой объективов и интенсивностью освещения с помощью блока управления камерой DS-L3 и автоматически распознает метод наблюдения
Nikon ECLIPSE LV100ND
Модульная конструкция микроскопа Nikon Eclipse LV100ND с ручным управлением для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, позволяет управлять сменой объективов и интенсивностью освещения с помощью блока управления камерой DS-L3 и автоматически распознает метод наблюдения
Модульная конструкция микроскопа Nikon Eclipse LV100ND с ручным управлением для работы при эпископическом/диаскопическом освещении, позволяет управлять сменой объективов и интенсивностью освещения с помощью блока управления камерой DS-L3 и автоматически распознает метод наблюдения
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV-N делает их универсальными с применением в различных отраслях. Устройства Eclipse LV-N могут использоваться для исследования самых разных образцов и в самых разных сферах применения - от разработки и контроля качества до осуществления технологического контроля в процессе производства
Nikon ECLIPSE LV150N
Модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV-N делает их универсальными с применением в различных отраслях. Устройства Eclipse LV-N могут использоваться для исследования самых разных образцов и в самых разных сферах применения - от разработки и контроля качества до осуществления технологического контроля в процессе производства
Модульная конструкция микроскопов серии Eclipse LV-N делает их универсальными с применением в различных отраслях. Устройства Eclipse LV-N могут использоваться для исследования самых разных образцов и в самых разных сферах применения - от разработки и контроля качества до осуществления технологического контроля в процессе производства
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Nikon BW-D500
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Nikon Eclipse L200N, L200ND
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L200N/L200ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L200N/L200ND являются микроскопы Nikon Eclipse L200/L200D. L200N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении. L200ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L300N/L300ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L300N/L300ND являются микроскопы Nikon Eclipse L300/L300D. L300N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении L300ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 300 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Nikon Eclipse L300N, L300ND
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L300N/L300ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L300N/L300ND являются микроскопы Nikon Eclipse L300/L300D. L300N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении L300ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 300 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Инспекционные микроскопы Nikon ECLIPSE L300N/L300ND предназначены для изучения и контроля качества интегральных схем. Предшественниками моделей Nikon Eclipse L300N/L300ND являются микроскопы Nikon Eclipse L300/L300D. L300N - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 200 мм при эпископическом освещении L300ND - Изучение полупроводниковых пластин диаметром до 300 мм при эпископическом и диаскопическом освещении
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Специалисты компании Nikon разработали новый галогеновый осветитель высокой интенсивности мощностью 50 Вт, обеспечивающий яркость, большую, чем от лампы мощностью 100 Вт. Яркость повышается примерно на 20-40% при кратности объективов от 50x и более. Новый осветитель потребляет меньше энергии и производит очень мало тепла, что значительно уменьшает смещение фокуса, вызванное воздействием тепла от источника света. Яркость не определяется одной лишь мощностью!
Nikon Eclipse LV100N POL
Специалисты компании Nikon разработали новый галогеновый осветитель высокой интенсивности мощностью 50 Вт, обеспечивающий яркость, большую, чем от лампы мощностью 100 Вт. Яркость повышается примерно на 20-40% при кратности объективов от 50x и более. Новый осветитель потребляет меньше энергии и производит очень мало тепла, что значительно уменьшает смещение фокуса, вызванное воздействием тепла от источника света. Яркость не определяется одной лишь мощностью!
Специалисты компании Nikon разработали новый галогеновый осветитель высокой интенсивности мощностью 50 Вт, обеспечивающий яркость, большую, чем от лампы мощностью 100 Вт. Яркость повышается примерно на 20-40% при кратности объективов от 50x и более. Новый осветитель потребляет меньше энергии и производит очень мало тепла, что значительно уменьшает смещение фокуса, вызванное воздействием тепла от источника света. Яркость не определяется одной лишь мощностью!
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Знаменитая оптика Nikon – серия CFI60 успешно сочетает в себе большие рабочие расстояния и высокие числовые апертуры и позволяет получать четкие изображения без аберраций независимо от кратности объектива. В объективах серии CFI используется экологически безопасное стекло, не содержащее таких вредных веществ, как свинец и мышьяк, их конструкция создавалась с заботой об окружающей среде.
Nikon Eclipse 50i POL
Знаменитая оптика Nikon – серия CFI60 успешно сочетает в себе большие рабочие расстояния и высокие числовые апертуры и позволяет получать четкие изображения без аберраций независимо от кратности объектива. В объективах серии CFI используется экологически безопасное стекло, не содержащее таких вредных веществ, как свинец и мышьяк, их конструкция создавалась с заботой об окружающей среде.
Знаменитая оптика Nikon – серия CFI60 успешно сочетает в себе большие рабочие расстояния и высокие числовые апертуры и позволяет получать четкие изображения без аберраций независимо от кратности объектива. В объективах серии CFI используется экологически безопасное стекло, не содержащее таких вредных веществ, как свинец и мышьяк, их конструкция создавалась с заботой об окружающей среде.
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Знаменитая оптика Nikon – серия CFI60 успешно сочетает в себе большие рабочие расстояния и высокие числовые апертуры и позволяет получать четкие изображения без аберраций независимо от кратности объектива. В объективах серии CFI используется экологически безопасное стекло, не содержащее таких вредных веществ, как свинец и мышьяк, их конструкция создавалась с заботой об окружающей среде.
Nikon Eclipse Ci-POL
Знаменитая оптика Nikon – серия CFI60 успешно сочетает в себе большие рабочие расстояния и высокие числовые апертуры и позволяет получать четкие изображения без аберраций независимо от кратности объектива. В объективах серии CFI используется экологически безопасное стекло, не содержащее таких вредных веществ, как свинец и мышьяк, их конструкция создавалась с заботой об окружающей среде.
Знаменитая оптика Nikon – серия CFI60 успешно сочетает в себе большие рабочие расстояния и высокие числовые апертуры и позволяет получать четкие изображения без аберраций независимо от кратности объектива. В объективах серии CFI используется экологически безопасное стекло, не содержащее таких вредных веществ, как свинец и мышьяк, их конструкция создавалась с заботой об окружающей среде.
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Индустриальные микроскопы применяются в полупроводниковой промышленности, микроэлектронике, приборостроении, радиоэлектронике, машиностроении и металлургии.
Промышленные микроскопы служат для осуществления монтажных операций и подготовки образцов для электронной микроскопии, для контроля качества печатных плат, интегральных схем, пластин, подложек, дисплеев, MEMS, фотошаблонов, пленок и полимеров, а также деталей приборов.
Индустриальные микроскопы используют для изучения геологических образцов (шлифы, аншлифы), руд, минералов, металлов и сплавов, анализа структуры и зернистости, дисперсности и анизотропии.