Микроскопы и системы для измерения размеров
Высокоточное решение для измерения размеров деталей в полупроводниковой промышленности, интегральных схем, чипов, плат, элементов часов и электроники.
Измерительный видеомикроскоп TBE-3
Высокоточное решение для измерения размеров деталей в полупроводниковой промышленности, интегральных схем, чипов, плат, элементов часов и электроники.
Высокоточное решение для измерения размеров деталей в полупроводниковой промышленности, интегральных схем, чипов, плат, элементов часов и электроники.
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMR-12072 с величиной хода столика 1200 х 720 х 150 мм. Платформа позволяет производить измерения особо крупных деталей, в том числе панелей FPD, дисплеев LCD, органических люминесцентных подложек для дисплеев OLED
Nikon NEXIV VMR-12072
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMR-12072 с величиной хода столика 1200 х 720 х 150 мм. Платформа позволяет производить измерения особо крупных деталей, в том числе панелей FPD, дисплеев LCD, органических люминесцентных подложек для дисплеев OLED
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMR-12072 с величиной хода столика 1200 х 720 х 150 мм. Платформа позволяет производить измерения особо крупных деталей, в том числе панелей FPD, дисплеев LCD, органических люминесцентных подложек для дисплеев OLED
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMR-10080 с величиной хода столика 1000 х 800 х 150 мм. Платформа позволяет производить измерения крупных деталей, в том числе фотомасок для подложек, печатных плат, дисплеев LCD, органических люминесцентных подложек для OLED, цветных фильтров
Nikon NEXIV VMR-10080
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMR-10080 с величиной хода столика 1000 х 800 х 150 мм. Платформа позволяет производить измерения крупных деталей, в том числе фотомасок для подложек, печатных плат, дисплеев LCD, органических люминесцентных подложек для OLED, цветных фильтров
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMR-10080 с величиной хода столика 1000 х 800 х 150 мм. Платформа позволяет производить измерения крупных деталей, в том числе фотомасок для подложек, печатных плат, дисплеев LCD, органических люминесцентных подложек для OLED, цветных фильтров
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMR-1515 с величиной хода столика 150 х 150 х 150 мм. Платформа позволяет производить измерения мелких деталей, в том числе сборок, MEMS, подложек, полупроводниковых пластин, соединителей, прессованных и штампованных деталей, элементов автомобилей и часовых механизмов
Nikon NEXIV VMR-1515
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMR-1515 с величиной хода столика 150 х 150 х 150 мм. Платформа позволяет производить измерения мелких деталей, в том числе сборок, MEMS, подложек, полупроводниковых пластин, соединителей, прессованных и штампованных деталей, элементов автомобилей и часовых механизмов
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMR-1515 с величиной хода столика 150 х 150 х 150 мм. Платформа позволяет производить измерения мелких деталей, в том числе сборок, MEMS, подложек, полупроводниковых пластин, соединителей, прессованных и штампованных деталей, элементов автомобилей и часовых механизмов
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-H3030 с величиной хода столика 300 х 300 х 150 мм. Платформа позволяет производить высокоточные измерения небольших деталей, например, фотошаблонов, MEMS, корпусов деталей, микросборок, подложек, полупроводниковых пластин, прессованных и штампованных деталей
Nikon NEXIV VMZ-H3030
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-H3030 с величиной хода столика 300 х 300 х 150 мм. Платформа позволяет производить высокоточные измерения небольших деталей, например, фотошаблонов, MEMS, корпусов деталей, микросборок, подложек, полупроводниковых пластин, прессованных и штампованных деталей
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-H3030 с величиной хода столика 300 х 300 х 150 мм. Платформа позволяет производить высокоточные измерения небольших деталей, например, фотошаблонов, MEMS, корпусов деталей, микросборок, подложек, полупроводниковых пластин, прессованных и штампованных деталей
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-R6555 с величиной хода столика 650 х 550 мм. Такая система подойдет для измерения компонентов большого размера и серийных измерений нескольких деталей
Nikon NEXIV VMZ-R6555
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-R6555 с величиной хода столика 650 х 550 мм. Такая система подойдет для измерения компонентов большого размера и серийных измерений нескольких деталей
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-R6555 с величиной хода столика 650 х 550 мм. Такая система подойдет для измерения компонентов большого размера и серийных измерений нескольких деталей
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-R4540 с величиной хода столика 450 х 400 мм. Такая система подойдет для измерения компонентов среднего размера и серийных измерений нескольких деталей
Nikon NEXIV VMZ-R4540
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-R4540 с величиной хода столика 450 х 400 мм. Такая система подойдет для измерения компонентов среднего размера и серийных измерений нескольких деталей
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-R4540 с величиной хода столика 450 х 400 мм. Такая система подойдет для измерения компонентов среднего размера и серийных измерений нескольких деталей
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon iNEXIV VMA-6555 с величиной хода столика 650 х 550 х 200 мм разработана в соответствии с требованиями автоматических измерений механических частей, электронных компонентов, штампов и пресс-форм
Nikon iNEXIV VMA-6555
Модель микроскопа Nikon iNEXIV VMA-6555 с величиной хода столика 650 х 550 х 200 мм разработана в соответствии с требованиями автоматических измерений механических частей, электронных компонентов, штампов и пресс-форм
Модель микроскопа Nikon iNEXIV VMA-6555 с величиной хода столика 650 х 550 х 200 мм разработана в соответствии с требованиями автоматических измерений механических частей, электронных компонентов, штампов и пресс-форм
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-R3020 с величиной хода столика 300 х 200 мм. Такая система подойдет для измерения мелких компонентов, в том числе механических, электронных, прессованных, штампованных и других деталей
Nikon NEXIV VMZ-R3020
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-R3020 с величиной хода столика 300 х 200 мм. Такая система подойдет для измерения мелких компонентов, в том числе механических, электронных, прессованных, штампованных и других деталей
Модель микроскопа Nikon NEXIV VMZ-R3020 с величиной хода столика 300 х 200 мм. Такая система подойдет для измерения мелких компонентов, в том числе механических, электронных, прессованных, штампованных и других деталей
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon iNEXIV VMA-4540 с величиной хода столика 450 х 400 х 200 мм разработана в соответствии с требованиями автоматических измерений механических частей, электронных компонентов, штампов и пресс-форм
Nikon iNEXIV VMA-4540
Модель микроскопа Nikon iNEXIV VMA-4540 с величиной хода столика 450 х 400 х 200 мм разработана в соответствии с требованиями автоматических измерений механических частей, электронных компонентов, штампов и пресс-форм
Модель микроскопа Nikon iNEXIV VMA-4540 с величиной хода столика 450 х 400 х 200 мм разработана в соответствии с требованиями автоматических измерений механических частей, электронных компонентов, штампов и пресс-форм
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Модель микроскопа Nikon iNEXIV VMA-2520 с величиной хода столика 250 х 200 х 200 мм разработана в соответствии с требованиями автоматических измерений механических частей, электронных компонентов, штампов и пресс-форм
Nikon iNEXIV VMA-2520
Модель микроскопа Nikon iNEXIV VMA-2520 с величиной хода столика 250 х 200 х 200 мм разработана в соответствии с требованиями автоматических измерений механических частей, электронных компонентов, штампов и пресс-форм
Модель микроскопа Nikon iNEXIV VMA-2520 с величиной хода столика 250 х 200 х 200 мм разработана в соответствии с требованиями автоматических измерений механических частей, электронных компонентов, штампов и пресс-форм
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Новый измерительный микроскоп Nikon может оснащаться системой лазерной автофокусировки и механизмом помощи при фокусировке для более точной фокусировки и прецизионных измерений по оси Z
Nikon MM-800
Новый измерительный микроскоп Nikon может оснащаться системой лазерной автофокусировки и механизмом помощи при фокусировке для более точной фокусировки и прецизионных измерений по оси Z
Новый измерительный микроскоп Nikon может оснащаться системой лазерной автофокусировки и механизмом помощи при фокусировке для более точной фокусировки и прецизионных измерений по оси Z
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Новый измерительный микроскоп Nikon может оснащаться системой лазерной автофокусировки и механизмом помощи при фокусировке для более точной фокусировки и прецизионных измерений по оси Z
Nikon MM-400
Новый измерительный микроскоп Nikon может оснащаться системой лазерной автофокусировки и механизмом помощи при фокусировке для более точной фокусировки и прецизионных измерений по оси Z
Новый измерительный микроскоп Nikon может оснащаться системой лазерной автофокусировки и механизмом помощи при фокусировке для более точной фокусировки и прецизионных измерений по оси Z
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Компактный, лёгкий, точный и простой в эксплуатации измерительный микроскоп для определения размеров и назначения допусков. Измерительный микроскоп Nikon MM-200 разработан специально для инженеров и контролёров ОТК
Nikon MM-200
Компактный, лёгкий, точный и простой в эксплуатации измерительный микроскоп для определения размеров и назначения допусков. Измерительный микроскоп Nikon MM-200 разработан специально для инженеров и контролёров ОТК
Компактный, лёгкий, точный и простой в эксплуатации измерительный микроскоп для определения размеров и назначения допусков. Измерительный микроскоп Nikon MM-200 разработан специально для инженеров и контролёров ОТК
Свяжитесь со специалистом удобным для Вас способом:
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
(495) 223-40-00 | systems@tokyo-boeki.ru
Измерительные системы применяются в машиностроении, автомобильной промышленности, в авиационной отрасли, радиоэлектронике, полупроводниковой промышленности, микроэлектронике и приборостроении для измерения размеров различных деталей.
Измерительные микроскопы служат для осуществления измерений интегральных схем, пластин, печатных плат PCB, микросборок, часовых механизмов размером до 300 мм.
Видеоизмерительные системы используют для бесконтактных измерений и видеообработки результатов замеров пластин, печатных плат PCB, MEMS, дисплеев LCD, деталей автомобилей, штампованных и формованных деталей больших размеров до 1,2 м.
Координатно-измерительные машины (КИМ) являются основой метрологической лаборатории многих производств и широко используются в различных областях промышленности для контактных и бесконтактных измерений изделий сложной формы размером до нескольких метров.