Карта сайта
- Главная
- Оборудование
- Медико-биологические микроскопы
- Индустриальные микроскопы
- Измерительные системы
- Пробоподготовка
- Дополнительное оборудование
- Новости
- Приглашаем на 15-ю Международную выставку «Аналитика Экспо» (11-13 апреля 2017, г.Москва)
- Новая цифровая камера Nikon DS-Fi3 для микроскопии
- Внесение измерительного микроскопа в Государственный Реестр Средств Измерений
- Приглашаем посетить MetrolExpo'2016
- Новый инвертированный исследовательский микроскоп Nikon Eclipse Ts2R
- Программное обеспечение для получения изображений с высоким разрешением на конфокальном микроскопе Nikon NIS-Elements C-ER
- Компания Nikon Instruments и Институт ФХБ имени А.Н. Белозерского МГУ открыли новый центр передовых технологий Nikon
- Приглашаем посетить Международный авиационно-космический салон МАКС-2015
- XIX Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел
- Приглашаем посетить выставку МЕТАЛЛООБРАБОТКА-2015
- ПРИГЛАШАЕМ ПОСЕТИТЬ MetrolExpo’2015
- Оптические системы микроманипуляции JPK на микроскопах Nikon
- Сверхразрешающий микроскоп Nikon N-STORM 4.0
- Новая система Nikon Ti-diSPIM
- Осветительная система Nikon Ti-LAPP
- Новые объективы для сверхразрешающих микроскопов Nikon N-SIM
- Новые лазерные модули LU-NV
- XII Международная конференция по наноструктурированным материалам NANO 2014
- Новые цифровые камеры Nikon для микроскопии
- Новые стереомикроскопы Nikon SMZ1270, SMZ1270i, SMZ800N
- Сотрудничество с компанией JEOL
- Улучшения мультифотонных конфокальных микроскопов Nikon A1 MP+
- Новые лазерные модули LU-N
- Новые детекторы на GaAsP от Nikon
- Приглашаем на 16-ю Международную выставку «Аналитика Экспо» (24-26 апреля 2018, г. Москва)
- Приглашаем на международную специализированную выставку SEMIEXPO Russia (29-30 мая 2018, г. Москва)
- Система Nexiv с автозагрузкой пластин
- Абсолютная новинка PowerTome PT FL от RMC Boeckeler!
- Новый инвертированный микроскоп Nikon Eclipse Ts2 для рутинных работ
- Программное обеспечение для планшетов Nikon NIS-Elements L
- Новая цифровая камера Nikon DS-1000 для недорогих микроскопов
- Ожившие коловратки
- Система Nexiv VMZ-S
- Температурные столики для микроскопов
- Новый лабораторный микроскоп Nikon Eclipse Ci-L plus
- Цифровой стереомикроскоп
- Цифровой 3D микроскоп
- Контакты
- Применение
- Запрос на оборудование
- Пресс-центр
- Сервис
- Подбор микроскопа
- О компании
- Микроскопы в наличии